[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 A=ez,87  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 d'Dd66  
X?u=R)uG  
Mw+ l>92  
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1. 案例 N`X|z  
MR@Qn[RdM  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 M0vX9;J  
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1. 系统构建模块 *[jq&  
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2. 组件连接器 Sy*p6DP  
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  x FvKjO)  
几何光学仿真 mZ?QtyljT  
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以光线追迹 Gt,VSpb~s  
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1. 结果：光线追迹 r#}o +3*  
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快速物理光学仿真 OwDwa~  
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以场追迹 @!!5el {  
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1. NA=1.4时的光栅成像 %_39Wa  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 fNrpYR X  

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3. NA=0.5时的光栅成像 $P #KL//  
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