[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 >^!qxb-  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 {8YNmxF#  
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1. 案例 |x[zzx# >-  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 `QIYnokL  
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1. 系统构建模块 %I&[:  
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2. 组件连接器 8,(FJ7OCT,  
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几何光学仿真 T<\!7RnLc  
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以光线追迹 6tKm'`^z4  
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1. 结果：光线追迹 xq.HR_\  
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快速物理光学仿真 &vy/Vd  
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以场追迹 oZY2K3J)  
R-8/BTls7  
1. NA=1.4时的光栅成像 JpFfO<uO  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 c]y"5;V8  
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3. NA=0.5时的光栅成像 I^5T9}>Q  
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