时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 8"rX;5
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授课时间：2024/4/12(五）-4/14（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 W,J,h6{F
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 }iloX#
课程讲师：讯技光电高级工程师&资深顾问 NX", e=
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) zUu>kJZ
课程简介：当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉，而且容易成型为非球面透镜，被广泛采用在光学系统中，如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板，如 OLED，近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性，从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射，还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法，第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 Wm&f+{LO+K
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课程大纲： ',%&D A2
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 &fj?hYAj
2. 光学薄膜理论基础 UL"3skV
2.1 介质和波 4># ^Pk?Ra
2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 <TuSU[ ]
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 .ai 9PsZ?V
3. 理论技术 B)`X 7uG
3.1 参考波长与 g b(Xg6
3.2 四分之一规则 v w;
3.3 导纳与导纳图 C(Y6 t1
4. 光学薄膜设计 FI5C&d5d
4.1 光学薄膜设计的进展 }O{"qs#)
4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题 O waXG/z~
4.3 光学薄膜设计技巧 ?@(H.
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4.4 特殊光学薄膜的设计方法 l
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4.5 优化目标设置 dfcG'+RU}
4.6 优化方法（单一优化，合成优化，模拟退火法，共轭梯度法，准牛顿法，针形优化，差分演化法） i%
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5.常规光学薄膜系统设计与分析 Z`KmH.l!
5.1 减反射薄膜 N|LVLsK
5.2 分光膜 B6o AW ,3
5.3 高反射膜 S7Fxb+{6D
5.4 干涉截止滤光片 T I
5.5窄带滤光片 E9hWn0 e
5.6负滤光片 r&DK> H
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 Qd?P[xm
5.8 Vstack薄膜设计示例 NBYE#Uih
5.9 Stack应用范例说明 jwox?] f+
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 W'$~ m K\
6.1 背景介绍 x6tY _lzJ
6.2 产品特性 9@B+$~:}7
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 d:''qg z`
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析
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6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 sSK$
7.防雾薄膜 kv b-=
7.1自清洁效应 -;*Z!|e9
7.2 超亲水薄膜 !U a#smZ
7.3 超疏水薄膜 Nj\WvKG
7.4防雾薄膜的制备 W~FA9Jd' Z
7.5防雾薄膜的性能测试 XN;eehB?aE
8.材料管理 4+ gA/<
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 dr o42#$Mo
8.2 金属与介质薄膜 ?_r"Fg;"
8.3 材料模型 'c D"ZVm1
8.4 介质薄膜光学常数的提取 \tqAv'jA|
8.5 金属薄膜光学常数的提取 V p$ckr
8.6 基板光学常数的提取 Gov{jksr
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 wSMg BRV#^
9.薄膜制备技术 0a'y\f:6*
9.1 常见薄膜制备技术 H <yec"
9.2 光学薄膜制备流程 {xX|5/z
9.3 淀积技术 R YNz TA
9.4 工艺因素 {cA )jW\'
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 @:I/lg=Qd
10.1光学薄膜监控技术 4 `F*] Ft
10.2误差分析与监控决策 =l +p nG
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 @C2<AmY9q*
10.4膜系灵敏度分析 ceCshxTU
10.5膜系容差分析 ;Z*R Cuwg
10.6误差分析工具 ($TxVFNT
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差（系统误差和随机误差） G`z48
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 Cu]X &l
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 +!(hd
12.1 光学性质的热致偏移 {TNAK%'v
12.2 应力工具 2h!3[ {M\
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) ES> 3Cf
13. 光学薄膜特性测量 2~)]E#9
13.1 薄膜光学常数的测量 I}=}S"v
13.2 薄膜堆积密度的测量 = Dg D&_
13.3 薄膜微观结构分析 /Kvb$]F+!
13.4 薄膜成分分析 r4s R5p]|
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 k <qQ+\X
13.6 薄膜表面粗糙度的测量 `uj`ixcR
14. 项目管理与应用实例 BhjXNf9[
14.1 项目管理 PD?H5W3@
14.2 光学薄膜项目开发过程 @& +
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14.3 客户需求分析 L 0Cf@~k
14.4 文档管理与报表生成 TwN8|ibVmP
15. 其他控制透反射方法 S XL6)pX
15.1 蛾眼抗反射结构 9pgct6BO
15.2 线栅偏振片 s$e n5)
16. Q&A R Mm`<:H_
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