时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 7u"Q1n(h/
授课时间：2024/4/12(五）-4/14（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 !mK()# 6
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 jsA x;Z:QT
课程讲师：讯技光电高级工程师&资深顾问 e;vI XJE
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) diXWm-ZKL
课程简介：当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉，而且容易成型为非球面透镜，被广泛采用在光学系统中，如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板，如 OLED，近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性，从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射，还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法，第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 ,9y6:W%5
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课程大纲： {e&fB X6;
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 h>V6}(~;.
2. 光学薄膜理论基础 4]1/{</B|
2.1 介质和波 yM 7{ v$X0
2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 ll5 ;09
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 B}04 E^
3. 理论技术 Cj#wY
3.1 参考波长与 g <Ch9"1f3,
3.2 四分之一规则 w#1BHx
3.3 导纳与导纳图 2Ug_3 ZuU
4. 光学薄膜设计 NzZ(N z5
4.1 光学薄膜设计的进展 ,xU#uyB
4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题 -|'@ :cIZ
4.3 光学薄膜设计技巧 :'r*
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4.4 特殊光学薄膜的设计方法 &7'=t 6
4.5 优化目标设置 i @:^b_
4.6 优化方法（单一优化，合成优化，模拟退火法，共轭梯度法，准牛顿法，针形优化，差分演化法） V(cU/Aia^
5.常规光学薄膜系统设计与分析 uyEk 1)HC
5.1 减反射薄膜 Q7u|^Gu,5
5.2 分光膜 nO yG7:
5.3 高反射膜 @~gPZm
5.4 干涉截止滤光片 ,%Z&*/*Oh
5.5窄带滤光片 X(Af`KOg[
5.6负滤光片 y= { k7
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 *ssw`}yE'
5.8 Vstack薄膜设计示例 G9x l-ag+z
5.9 Stack应用范例说明 %(s|
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 eLT3b6'"?
6.1 背景介绍 # N3*SE
6.2 产品特性 Q=!QCDO(
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 .;31G0<w2
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析 )* %uG{h
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 Rm3W&hQ
7.防雾薄膜
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7.1自清洁效应 #HL$`&m
7.2 超亲水薄膜 &=t~_ Dc
7.3 超疏水薄膜 yVzV] &k
7.4防雾薄膜的制备 3^Is4H_8
7.5防雾薄膜的性能测试 Kez0Bka
8.材料管理 s]yZ<uA
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 euY+jc%
8.2 金属与介质薄膜 w*'DlP<7
8.3 材料模型 <.g)?nj1
8.4 介质薄膜光学常数的提取 \Uh/(q7
8.5 金属薄膜光学常数的提取 s
j-oaWt
8.6 基板光学常数的提取 L7- JK3/E
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 YeJTB }
9.薄膜制备技术 f`vWCb
9.1 常见薄膜制备技术 v+E J
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9.2 光学薄膜制备流程 n{|j#j
9.3 淀积技术 "/O07l1Q<
9.4 工艺因素 #U'}g *
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 rG-x 3>b
10.1光学薄膜监控技术 D0\*WK $
10.2误差分析与监控决策 [)} `w;#
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 `0s3to%7
10.4膜系灵敏度分析 /W>?p@j+K
10.5膜系容差分析 c 9gm%
10.6误差分析工具 @6_w {6:b
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差（系统误差和随机误差） T#E,^|WEk
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 0XE6H w
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 ,X|
>d
12.1 光学性质的热致偏移 vzAY+EEx
12.2 应力工具 5a 6d3u/
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) S41S+#7t*
13. 光学薄膜特性测量 5:+x7Ed
13.1 薄膜光学常数的测量 \Ogs ]4
13.2 薄膜堆积密度的测量 1Xcj =I- 4
13.3 薄膜微观结构分析 c ~M'O26bW
13.4 薄膜成分分析 V
7 p{'C
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 *` -
13.6 薄膜表面粗糙度的测量
B*`[8kb,
14. 项目管理与应用实例 }q_Iep
14.1 项目管理 heES
[
14.2 光学薄膜项目开发过程 ,~ =+]9t
14.3 客户需求分析 i @M^ l`w
14.4 文档管理与报表生成 }uD*\.
15. 其他控制透反射方法 ME*zMLoF+
15.1 蛾眼抗反射结构 WYvcN8F
15.2 线栅偏振片 s z7<u|
16. Q&A c[6<UkH7
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