时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司
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授课时间：2024/4/12(五）-4/14（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 nt5 ~" 8
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 }"cb^3
课程讲师：讯技光电高级工程师&资深顾问 @pG\5 Jnf
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) N?pD"re)6
课程简介：当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉，而且容易成型为非球面透镜，被广泛采用在光学系统中，如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板，如 OLED，近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性，从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射，还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法，第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 U7 ajDw
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课程大纲： h h d n9n
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 kYR&t}jlCg
2. 光学薄膜理论基础 @nZ Fw.
2.1 介质和波 b1 KiO2
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2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 }RoM N$r
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 f qZ!Bi
3. 理论技术 PD/~@OsxU
3.1 参考波长与 g Gwv s~jN
3.2 四分之一规则 1C |j<w=i
3.3 导纳与导纳图 v4ueF EY
4. 光学薄膜设计 n1cAI|ZE
4.1 光学薄膜设计的进展 MA1,;pv6
4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题 iT|+<h
4.3 光学薄膜设计技巧 # Xn#e
4.4 特殊光学薄膜的设计方法 :))AZ7_
4.5 优化目标设置 _6(zG.Fg
4.6 优化方法（单一优化，合成优化，模拟退火法，共轭梯度法，准牛顿法，针形优化，差分演化法） AN.` tv
5.常规光学薄膜系统设计与分析 g`&pQ%|=
5.1 减反射薄膜 zg5 u
5.2 分光膜 pCC0:
5.3 高反射膜 tSO F7N/<
5.4 干涉截止滤光片 ~w$8*2D
5.5窄带滤光片 }'Z(J)Bg
5.6负滤光片 gVI*`$
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 Ri-I+7(n!
5.8 Vstack薄膜设计示例 ga ,yFw
5.9 Stack应用范例说明 TY8 8PXW
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 o 86}NqK
6.1 背景介绍 [S<DdTY9hZ
6.2 产品特性 i "-#1vy=
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 Gpgi@
Uf
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析 Lv_6Mf(
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 ]&9f:5',
7.防雾薄膜 :s$ 9#}hw,
7.1自清洁效应 )v|a:'% K_
7.2 超亲水薄膜 T}\U:@b
7.3 超疏水薄膜 G;^iwxzhO
7.4防雾薄膜的制备 4 bJ3uIP#
7.5防雾薄膜的性能测试 xpS#l"dr
8.材料管理 ),~Ca 'TU
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 =LT( { 8
8.2 金属与介质薄膜 ~q1s4^J
8.3 材料模型 pw$I~3OFd
8.4 介质薄膜光学常数的提取 jV7q)\uu^
8.5 金属薄膜光学常数的提取 R
UX
8.6 基板光学常数的提取 QOP*vH >J
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 ++kiCoC
9.薄膜制备技术 )*_YeT&w.
9.1 常见薄膜制备技术 @*_K#3
9.2 光学薄膜制备流程 JEP"2M N,
9.3 淀积技术 [t6)M~&e:_
9.4 工艺因素 d[S!e`,iD
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 %V+ ,#
10.1光学薄膜监控技术 `V?{
10.2误差分析与监控决策 J,q:
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 fx}R 7GN2
10.4膜系灵敏度分析 _>aesp%
10.5膜系容差分析 JN8k x;@
10.6误差分析工具 zcNV<tx
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差（系统误差和随机误差） \J13rL{<
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 =9)ypI-2
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 G_o/ lIz"
12.1 光学性质的热致偏移 B"EMir'
12.2 应力工具 cX&c% ~
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) =-:o?&64
13. 光学薄膜特性测量 v |i(peA #
13.1 薄膜光学常数的测量 iD]!PaFD`
13.2 薄膜堆积密度的测量 }U(^ Q B
13.3 薄膜微观结构分析 Ny~;" n
13.4 薄膜成分分析 )0%<ZVB
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 gWlmQl
13.6 薄膜表面粗糙度的测量 mj,r@@k:=+
14. 项目管理与应用实例 _{b a
14.1 项目管理 C ) P N
14.2 光学薄膜项目开发过程 6#K_Rg >.
14.3 客户需求分析 fDRQ(}
14.4 文档管理与报表生成 2GD%=rP2]
15. 其他控制透反射方法 Q7SS<'(
15.1 蛾眼抗反射结构 x7*}4>|W,I
15.2 线栅偏振片 ,sc>~B@Q
16. Q&A *U]f6Q<X
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