时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 TTKs3iTXz
授课时间:2024/4/12(五)-4/14(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 6*3.SGUY
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 Dp':oJC
课程讲师:讯技光电高级工程师&资深顾问 R.yC(r
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) 43@{JK9G
课程简介:当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉,而且容易成型为非球面透镜,被广泛采用在光学系统中,如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板,如 OLED,近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性,从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射,还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法,第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 sNLs\4v
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课程大纲: [DF,^4g
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 MerFZd 1
2. 光学薄膜理论基础 RR]CW
2.1 介质和波 `-p:vq`
2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 EUxG Aj$-
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 Ipf=ZD
3. 理论技术 ^G.B+dG@`x
3.1 参考波长与 g lQe%Yh
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3.2 四分之一规则 t$De/Uq
3.3 导纳与导纳图 fP(d8xTx2y
4. 光学薄膜设计 Ac<Phy-J
4.1 光学薄膜设计的进展 iy%ZQ[Un
4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题 ;oc&Hb
4.3 光学薄膜设计技巧 hBBUw0"
4.4 特殊光学薄膜的设计方法 -$dXE+&
4.5 优化目标设置 ])nPPf
4.6 优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法) E6pMT^{K
5.常规光学薄膜系统设计与分析 JW3B'_0
5.1 减反射薄膜 rv|)n>m
5.2 分光膜 s;6CExH
5.3 高反射膜 <OIIoB?t
5.4 干涉截止滤光片 orjj'+;X
5.5窄带滤光片 U15H@h
5.6负滤光片 /!3@]xz*
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 'LE=6{#
5.8 Vstack薄膜设计示例 23DiW#o'
5.9 Stack应用范例说明 ;N0~;I
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 Jz2N
6.1 背景介绍 !;KCU^9
6.2 产品特性 4#:W.]U8
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 'LO^<
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析 s]f6/x/~
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 Y\$ySvZ0
7.防雾薄膜
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7.1自清洁效应 >kW@~WDMu
7.2 超亲水薄膜 //s:5S<Z
7.3 超疏水薄膜 v#U"pn|M
7.4防雾薄膜的制备 tF{D= ;G
7.5防雾薄膜的性能测试 |bO"_U
8.材料管理 =g|IG
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8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 Ht&:-F+dm
8.2 金属与介质薄膜 % a@>_
8.3 材料模型 V 7Ek-2M
8.4 介质薄膜光学常数的提取 TX&Jt%
8.5 金属薄膜光学常数的提取 !qM=a3
8.6 基板光学常数的提取 kNobl
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 IVAmV!.z
9.薄膜制备技术 SV~cJ]F
9.1 常见薄膜制备技术 +PcmJ
9.2 光学薄膜制备流程 &L,nqc\3D5
9.3 淀积技术 4}eepJOn
9.4 工艺因素 nv~%#|v_W
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 6er-{.L=
10.1光学薄膜监控技术 {l/-LZ.
10.2误差分析与监控决策 f
(F)1
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 e-"nB]n^/
10.4膜系灵敏度分析 <U!`J[n%
10.5膜系容差分析 Is{KN!Hw
10.6误差分析工具 W8KDX_vGJ
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) )~HUo9K9
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 ucG@?@JENm
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 HLV2~5Txc
12.1 光学性质的热致偏移 \l]DQaOEe
12.2 应力工具 U8LtG/
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) \kU &^Hi
13. 光学薄膜特性测量 j ~1B|,H
13.1 薄膜光学常数的测量 +/)#( j@
13.2 薄膜堆积密度的测量 C'o64+W^
13.3 薄膜微观结构分析 vM*($qpAy
13.4 薄膜成分分析 L>SjllY
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 ?6fnpGX@a
13.6 薄膜表面粗糙度的测量 ,Qe?8En[
14. 项目管理与应用实例 ecCr6)
14.1 项目管理 YW60q0:
14.2 光学薄膜项目开发过程 g!+|I
14.3 客户需求分析 (}EB2V9Hh
14.4 文档管理与报表生成 XbD4:i%
15. 其他控制透反射方法 O4^8jK}
15.1 蛾眼抗反射结构 }}>q2y
15.2 线栅偏振片 RH O( ?8"_
16. Q&A T^~5n6
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