时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 Rb!V{jQ
授课时间:2024/4/12(五)-4/14(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 '8RBR%)y
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 :&59N^So|
课程讲师:讯技光电高级工程师&资深顾问 $Sg5xkV,a
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) /<"<N<X
课程简介:当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉,而且容易成型为非球面透镜,被广泛采用在光学系统中,如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板,如 OLED,近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性,从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射,还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法,第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 j_w"HiNBA
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课程大纲: c_p7vvI&c0
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 1^R[kaY
2. 光学薄膜理论基础 A!xx#+M
2.1 介质和波 6sE%] u<V
2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 Nj~3FL
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 kx3?'=0;5
3. 理论技术 3y9R1/!
3.1 参考波长与 g g$CWGB*%lm
3.2 四分之一规则 :9c[J$R4
3.3 导纳与导纳图 XXwe/>J
4. 光学薄膜设计 o'#ow(X
4.1 光学薄膜设计的进展 CN(}0/
4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题 Uxll<z,
4.3 光学薄膜设计技巧 G&7!3u
4.4 特殊光学薄膜的设计方法 ON()2@Y4
4.5 优化目标设置 9?xD"Z
4.6 优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法) DERhmJ;>H
5.常规光学薄膜系统设计与分析 )P|&o%E
5.1 减反射薄膜 }hoyjzv]L
5.2 分光膜 #.KVT#%~{
5.3 高反射膜 N?Nu'
5.4 干涉截止滤光片 agI"Kh]j?
5.5窄带滤光片 8gIf
5.6负滤光片 mBtXa|PJ
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 kiP-^Wan
5.8 Vstack薄膜设计示例 16cc9%
5.9 Stack应用范例说明 78u9> H
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 V]{^}AKc
6.1 背景介绍 k1h>8z.Tg
6.2 产品特性 @Q%9b )\\
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 iL48
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析 #'qDNY@ w}
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 Kn#CIFbBN
7.防雾薄膜 P #PRzt
7.1自清洁效应 /%F}vW(!
7.2 超亲水薄膜 g##yR/L
7.3 超疏水薄膜 x 8_nLZ
7.4防雾薄膜的制备 hKjG/g:#G
7.5防雾薄膜的性能测试 2d60o~E
8.材料管理 Sy0-tK4
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 S
A\_U::T
8.2 金属与介质薄膜 [11D7L%1t
8.3 材料模型 \GP0FdpV
8.4 介质薄膜光学常数的提取 uH.1'bR?a
8.5 金属薄膜光学常数的提取 y$Rh$eK
8.6 基板光学常数的提取 k
x?m "a%
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 r`OC5IoQ
9.薄膜制备技术 FpYeuH%
9.1 常见薄膜制备技术 x)0''}E~
9.2 光学薄膜制备流程 c|2+J:}p
9.3 淀积技术 UzKB "Q
9.4 工艺因素 :G8:b.
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 /hv2=A
10.1光学薄膜监控技术 W>'KE:!sp
10.2误差分析与监控决策 ny'wS
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 v1aE[Q
10.4膜系灵敏度分析 GpC*w
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10.5膜系容差分析 8iwH^+h~
10.6误差分析工具 p\G1O*Z
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) ;/R \!E
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 M/5+AsT
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 <KEVA?0>
12.1 光学性质的热致偏移 87ptab@
12.2 应力工具 Kj/{V
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) ? \p,s-CR:
13. 光学薄膜特性测量 {;^GKb+
13.1 薄膜光学常数的测量 hx$bY
13.2 薄膜堆积密度的测量 k8S`44vj
13.3 薄膜微观结构分析 VC.zmCglo^
13.4 薄膜成分分析 ^o-)y"GJ
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 h}n?4B~Gi
13.6 薄膜表面粗糙度的测量 s)-O{5;U
14. 项目管理与应用实例 :\cid]y3
14.1 项目管理 4%"Df1U
14.2 光学薄膜项目开发过程 8 \Uy
14.3 客户需求分析 9?Q0O\&uP
14.4 文档管理与报表生成 -Crm#Ib~
15. 其他控制透反射方法
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15.1 蛾眼抗反射结构 =EQaZ8k
15.2 线栅偏振片 &j!q9F
16. Q&A i0g/'ZP
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