时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 Bh,)5E^m
授课时间:2024/4/12(五)-4/14(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 qW~R-g]
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 c^Jgr(Ow
课程讲师:讯技光电高级工程师&资深顾问 fq'Xy9L
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) P"h\7V,d%
课程简介:当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉,而且容易成型为非球面透镜,被广泛采用在光学系统中,如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板,如 OLED,近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性,从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射,还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法,第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 'UVv(-
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课程大纲: bmVgTm&
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 qH
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2. 光学薄膜理论基础 > &vO4L
2.1 介质和波 1m`tqlFU9
2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 g!p_c
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 n
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3. 理论技术 ]cqZ!4?_
3.1 参考波长与 g 9G&l qfX:
3.2 四分之一规则 S"^KJUUc
3.3 导纳与导纳图 :aq>
4. 光学薄膜设计 !""!sFx)R
4.1 光学薄膜设计的进展 3y=<w|4F
4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题 cL)rjty2
4.3 光学薄膜设计技巧 I0H Y#z%
4.4 特殊光学薄膜的设计方法 abaQJ|
4.5 优化目标设置 boF4d'g"
4.6 优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法) q9 brpbg_
5.常规光学薄膜系统设计与分析 5uV"g5?w
5.1 减反射薄膜 3.<6;?
5.2 分光膜 2]NAs9aZ
5.3 高反射膜 RpXs3=9
5.4 干涉截止滤光片 12d}#G<q-
5.5窄带滤光片 :@>br+S
5.6负滤光片 an=+6lIl
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 @oz&
5.8 Vstack薄膜设计示例 Q)6wkY+!
5.9 Stack应用范例说明 (C l`+ V
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 (>LHj]}K
6.1 背景介绍 [B~zoB(
6.2 产品特性 A-7wkZ.H
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 ,-7/]h,l
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析 P\X=*
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 +/3
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7.防雾薄膜 Vr-3M+l=O
7.1自清洁效应 6PJJ?}P^1
7.2 超亲水薄膜 3KG) 6)1*
7.3 超疏水薄膜 QFNz9c
7.4防雾薄膜的制备 moVa'1ul
7.5防雾薄膜的性能测试 }&(E#*>x
8.材料管理 lNaez3
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 2[LX\
8.2 金属与介质薄膜 ^EUOmVN
8.3 材料模型 kg?T$}O
8.4 介质薄膜光学常数的提取 urrO1
8.5 金属薄膜光学常数的提取 d7gH3 l
8.6 基板光学常数的提取 /h7>Z9T
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 T`g?)/
9.薄膜制备技术 D0#T-B\#
9.1 常见薄膜制备技术 -yl4tW
9.2 光学薄膜制备流程 :^H9W^2
9.3 淀积技术 oBRm\8 2|
9.4 工艺因素 P^b:?%
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 t*Vao
10.1光学薄膜监控技术 ycrh5*g
10.2误差分析与监控决策 i9&K
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 *X=@yB*aK
10.4膜系灵敏度分析 }
T/}0W]0
10.5膜系容差分析 'z +$3\5L
10.6误差分析工具 lTV@b&
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) I3 G*+6V
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 uv|eVT3jNs
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 ^J#?hHz
12.1 光学性质的热致偏移 0+K`pS'
12.2 应力工具 N?a1sdR
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) ;z.6'EYMG
13. 光学薄膜特性测量 ;!l*7}5X=
13.1 薄膜光学常数的测量 'ZGT`'ri
13.2 薄膜堆积密度的测量 6z9R1&~%
13.3 薄膜微观结构分析 a%Z4_ToLZ
13.4 薄膜成分分析 `W"a!,s2
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 Vq3]7l
13.6 薄膜表面粗糙度的测量 OX)#F'Sl}
14. 项目管理与应用实例 7m|`tjQ1
14.1 项目管理 L,C? gd@"
14.2 光学薄膜项目开发过程 b4Ricm
14.3 客户需求分析 tMxsR>sH
14.4 文档管理与报表生成 DC?21[60
15. 其他控制透反射方法 "XGD:>Q.
15.1 蛾眼抗反射结构 h]kn%?fpmB
15.2 线栅偏振片 42b. 7E
16. Q&A "bD+/\ z
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