时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 VQZT.^
授课时间:2024/4/12(五)-4/14(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 3hp
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授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 <v1_F;{n
课程讲师:讯技光电高级工程师&资深顾问 s (l+{b &
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) q[T_*X3o
课程简介:当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉,而且容易成型为非球面透镜,被广泛采用在光学系统中,如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板,如 OLED,近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性,从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射,还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法,第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 Dg ?Ho2ih
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课程大纲: )wyu+_:
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 T%z!+/=&^
2. 光学薄膜理论基础 0
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2.1 介质和波 1tuator
2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 Qe'PAN=B
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 EX[l0]fj
3. 理论技术 '6Rs0__
3.1 参考波长与 g ]G$!/vXP
3.2 四分之一规则 O V0cr
3.3 导纳与导纳图 `UzCq06rJ1
4. 光学薄膜设计 =}6Z{}(TT
4.1 光学薄膜设计的进展 RMs1{64:
4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题 kC,DW%Ls
4.3 光学薄膜设计技巧 DVeF(Y3&
4.4 特殊光学薄膜的设计方法 btkMY<o7
4.5 优化目标设置 <3J=;.\6
4.6 优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法) AmrJ_YP/t~
5.常规光学薄膜系统设计与分析 t 's5~
5.1 减反射薄膜 {#d`&]
5.2 分光膜 [{Klv&>_/
5.3 高反射膜 ]2u7?l
5.4 干涉截止滤光片 0Zp<=\!;
5.5窄带滤光片 f(zuRM^5
5.6负滤光片 =r@ie>*U
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 g*\v}6
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5.8 Vstack薄膜设计示例 ).@)t:uNa
5.9 Stack应用范例说明 +LU ).
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 07E".T%Ts
6.1 背景介绍 iI/'!85
6.2 产品特性 j2C^1:s@m
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 `cy"-CJS
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析 Av[|.~g
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 Qr xO
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7.防雾薄膜 Lu u-c<*M
7.1自清洁效应 R?FtncL%D
7.2 超亲水薄膜 pQ6t]DJ4
7.3 超疏水薄膜 V0wC@?
7.4防雾薄膜的制备 fjzr8vU}C
7.5防雾薄膜的性能测试
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8.材料管理 T<_1|eH
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 #0$eTdx#
8.2 金属与介质薄膜 ,YuWz$aF{
8.3 材料模型 WLA_YMlA
8.4 介质薄膜光学常数的提取
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8.5 金属薄膜光学常数的提取 ( Nve5
8.6 基板光学常数的提取 N'W>pU
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 Ts ?>"@
9.薄膜制备技术 -a#AE|`
9.1 常见薄膜制备技术 #)c;i<Q3S
9.2 光学薄膜制备流程 Et[QcB3
9.3 淀积技术 )SO1P6
9.4 工艺因素 1\9BO:<K
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 7H@Cy}a
10.1光学薄膜监控技术 1pBsr(
10.2误差分析与监控决策 `5aypJf1
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 $y |6<
10.4膜系灵敏度分析 0yEyt7
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10.5膜系容差分析 SGT-B.
10.6误差分析工具 2QQYXJ^
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) kv FOk
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 OEq e^``!
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 (/UMi,Ho
12.1 光学性质的热致偏移 >ww1:Sn
12.2 应力工具 $1`t+0^k
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) ur_"m+
13. 光学薄膜特性测量 p9bxhnn|
13.1 薄膜光学常数的测量 'jO-e^qT
13.2 薄膜堆积密度的测量 (VF4]
13.3 薄膜微观结构分析 ^bgm0,M
13.4 薄膜成分分析 GA@Q:n8UuR
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 7m)ykq:?
13.6 薄膜表面粗糙度的测量 ;$&5I9N
14. 项目管理与应用实例 9kiy^0
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14.1 项目管理 7]+'%Uwu)
14.2 光学薄膜项目开发过程 +,w|&y
14.3 客户需求分析 5~TA(cb5
14.4 文档管理与报表生成 `x^,k%
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15. 其他控制透反射方法 loVvr"&g
15.1 蛾眼抗反射结构 V?pO ~qo
15.2 线栅偏振片 ##\ZuJ^-
16. Q&A @9Pn(fd]
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