时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 <.c@l,[.z
授课时间：2024/4/12(五）-4/14（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 W?W vT`
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授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 F^i v1b
课程讲师：讯技光电高级工程师&资深顾问 =}@m$g
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) N_jCx* .G
课程简介：当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉，而且容易成型为非球面透镜，被广泛采用在光学系统中，如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板，如 OLED，近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性，从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射，还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法，第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 ]s
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课程大纲： dt NHj/\
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 0(9]m)e
2. 光学薄膜理论基础 Ve<3XRq |8
2.1 介质和波 %\=oy=f
2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 p_hljgOV
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 [oOA@
3. 理论技术 5u ED
3.1 参考波长与 g 1c=Roiq
3.2 四分之一规则 I0\}S [+ H
3.3 导纳与导纳图 'TPRGX~&
4. 光学薄膜设计 j[/'`1tOe
4.1 光学薄膜设计的进展 Q >gU(
4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题 {Kp<T
4.3 光学薄膜设计技巧 h-VpX6
4.4 特殊光学薄膜的设计方法 @a.Y9;O
4.5 优化目标设置 \! 8`kC
4.6 优化方法（单一优化，合成优化，模拟退火法，共轭梯度法，准牛顿法，针形优化，差分演化法） nU"V@_?\
5.常规光学薄膜系统设计与分析 -la~p~8
5.1 减反射薄膜 =l`xXma
5.2 分光膜 1\d$2N"
5.3 高反射膜 f[)_ =T+
5.4 干涉截止滤光片 rQNT
5.5窄带滤光片 |=.z0{A7H
5.6负滤光片 m d[FtcY\
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 !=#230Y
5.8 Vstack薄膜设计示例 k
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5.9 Stack应用范例说明 qL^}t_>
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 SM:SxhrGt
6.1 背景介绍 ZIAi Vq2)
6.2 产品特性 mY9u/; dK
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 t`{^g t
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析 |Iy55~hK`
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 ]rM{\En
7.防雾薄膜 w $7J)ngA9
7.1自清洁效应 an3H Kfv
7.2 超亲水薄膜 ?MhRdY
7.3 超疏水薄膜 Hk-)fl#dr
7.4防雾薄膜的制备 3 mn0
7.5防雾薄膜的性能测试 n<:/ X tE
8.材料管理 3 uwZ#
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 P9J3Ii!
8.2 金属与介质薄膜 !l'Az3'J|
8.3 材料模型 9/w'4bd
8.4 介质薄膜光学常数的提取 < p(&8P
8.5 金属薄膜光学常数的提取 vCwDE~
8.6 基板光学常数的提取 xmtbSRgK9
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 v8Nc q uv
9.薄膜制备技术 GK}?*Lf s
9.1 常见薄膜制备技术 xM%E;
9.2 光学薄膜制备流程 $4kc i@.
9.3 淀积技术 !D%*s ,t\'
9.4 工艺因素 ~c!zTe
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 uAyj##H
10.1光学薄膜监控技术 : o$ R@l
10.2误差分析与监控决策 |6B:tw/.
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 O#A 1)~
10.4膜系灵敏度分析 c>K/f7
10.5膜系容差分析 9Q :IgY?T
10.6误差分析工具 8 Oeg"d
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差（系统误差和随机误差） eEJ8j_G
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 SP sq][5eR
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 '2]u{rr~+
12.1 光学性质的热致偏移 {549 &]/o
12.2 应力工具 w0 ~iGr}P
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) CzzG
13. 光学薄膜特性测量 `. %;|"xR
13.1 薄膜光学常数的测量 ?w#
>Cs(
13.2 薄膜堆积密度的测量 GT%V,OJ
13.3 薄膜微观结构分析 7V0:^Jov
13.4 薄膜成分分析 [RD ^@~x
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 6u7 (}K
13.6 薄膜表面粗糙度的测量 !N,Z3p>Q
14. 项目管理与应用实例 U^Z[6u
14.1 项目管理 N(&FATZUW
14.2 光学薄膜项目开发过程 /db?ltb
14.3 客户需求分析 D4'?
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14.4 文档管理与报表生成 ao{>.b
15. 其他控制透反射方法 8)rv.'A((E
15.1 蛾眼抗反射结构 t@.gmUUA
15.2 线栅偏振片 E yNI]XEj
16. Q&A D0i84I`Z%
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