时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 @ a$HJ:
授课时间:2024/4/12(五)-4/14(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 5IsRIz[`TK
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 - 2`D(xC
课程讲师:讯技光电高级工程师&资深顾问 /;K?Y#mf~j
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) 3!OO_
课程简介:当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉,而且容易成型为非球面透镜,被广泛采用在光学系统中,如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板,如 OLED,近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性,从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射,还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法,第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 *@C]\)
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课程大纲: i,h)
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 aV6l"A]
2. 光学薄膜理论基础 uQYBq)p|
2.1 介质和波 .0eHP
2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 {;kH&Pp
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 Y unY'xY
3. 理论技术 !6 k{]v
3.1 参考波长与 g {Y p;R
3.2 四分之一规则 |}O9'fyU8
3.3 导纳与导纳图 Hh<3k- *d
4. 光学薄膜设计 DOzJ-uww1
4.1 光学薄膜设计的进展 R06zca
4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题 Kr*s]O
4.3 光学薄膜设计技巧 OGC|elSM
4.4 特殊光学薄膜的设计方法 R\+O.vX
4.5 优化目标设置 _&~y{;)S
4.6 优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法) `B4Px|3
5.常规光学薄膜系统设计与分析 G|"`kAa
5.1 减反射薄膜 c/g"/ICs
5.2 分光膜 cHG>iW 9C
5.3 高反射膜 @6~OQN
5.4 干涉截止滤光片 pR
VL}^Rk
5.5窄带滤光片 N-+`[8@(P<
5.6负滤光片 [8sL);pJO
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 pKM5<1J
5.8 Vstack薄膜设计示例 ic+tn9f\
5.9 Stack应用范例说明 Ju~8C\Dd
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 1 ^k#g,
6.1 背景介绍 ZV=)`E`I|
6.2 产品特性 GsG9;6c+u
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 z+J4XpX0,
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析 z
[qO5z~I
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 <<Fk[qMA
7.防雾薄膜 g[W`4
7.1自清洁效应 :e&P's=
7.2 超亲水薄膜 /wjL<
7.3 超疏水薄膜
hgz7dF
7.4防雾薄膜的制备 kp+\3z_
7.5防雾薄膜的性能测试 x4HVB
8.材料管理 L'>t:^QTh
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 cX64 X
8.2 金属与介质薄膜 54A ndyeA
8.3 材料模型 Ff\U]g
8.4 介质薄膜光学常数的提取 ~IB~>5U!
8.5 金属薄膜光学常数的提取 p:,(r{*?
8.6 基板光学常数的提取 Tn# >"Ag
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 mh4NZ @;
9.薄膜制备技术 o,fBOPIN
9.1 常见薄膜制备技术 "ct_EPr`
9.2 光学薄膜制备流程 FL5tIfV+
9.3 淀积技术 U 9?!|h;7
9.4 工艺因素 pGy]t
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 Mb I';Mq
10.1光学薄膜监控技术 V0]6F
10.2误差分析与监控决策 4Qr16,Us
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 J%
B(4`
10.4膜系灵敏度分析 NA,)FmQjk
10.5膜系容差分析 4g.y$
10.6误差分析工具 >^@/Ba$h
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) "[.adiw
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 V9 pKbX
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 &&}'
12.1 光学性质的热致偏移 &}1PH%6
12.2 应力工具 #du!tx ( _
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) 6 ]@H .8+
13. 光学薄膜特性测量 Ny;(1N|&3
13.1 薄膜光学常数的测量 c%uX+\-$
13.2 薄膜堆积密度的测量 :VPZGzK4
13.3 薄膜微观结构分析 o0>z6Ya<
13.4 薄膜成分分析 3N) bJ
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 0ih=<@1 K
13.6 薄膜表面粗糙度的测量 _RFTm.9&
14. 项目管理与应用实例 pZ/aZg1Ld
14.1 项目管理 e+z_Rj%Y;I
14.2 光学薄膜项目开发过程 F3\' WQh
14.3 客户需求分析 6'e}!O
14.4 文档管理与报表生成 @l0#C5(:
15. 其他控制透反射方法 C?bq7kD:H
15.1 蛾眼抗反射结构 qbjLTE=
15.2 线栅偏振片 d#N<t`
16. Q&A %Ot22a
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