[培训]3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程 [复制链接]

时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司   苏州黉论教育咨询有限公司 za:a)U^n  
授课时间：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 Yly@ww9t|  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 /0W9g  
课程讲师：讯技光电高级工程师 kloR#?8A  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)  U3izvM  
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF 与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5 天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5 天） qS/V"|G(  
1. 杂散光介绍与术语 -DN8Yb  
1.1 杂散光路径 (x"BR  
1.2 关键面和照明面 xXY.AoO6  
1.3 杂光内部和外部杂散光 `}m
 Q  
2. 基本辐射度量学-辐射 Q.9qImgN  
2.1 BSDF 及其散射模型 1=|7mehL%  
2.2 TIS 总散射概念 l"q1?kaVg  
2.3 PST(点源透射比) j,t#B"hOnp  
3.杂散光分析中的光线追迹 UWZa|I~:J  
3.1FRED软件光线追迹介绍 <W`#gn0b6  
3.2构建杂散光模型 &X|<@'933  
定义光学和机械几何 J0 k  
定义光学属性 (faK+z,*6R  
3.3光线追迹 rUlS'L;$"  
使用光线追迹来量化收敛速度 t4qej  
重点采样 \.f}W_OF  
反向光线追迹 4<lQwV6=  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 rrnNn'  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 ?\U!huu  
使用GPU来进行追迹 v}sY|p"  
RAM内存使用设置 \XF}?*8  
4.散射模型 ~XydQJ^*  
4.1来自表面粗糙的散射 c{>uqPTY  
低频、中频、高频 )jCo%P/  
RMS粗糙度与BSDF的关系 D?~
8za`5  
由PSD推导BSDF )-Ej5'iHr  
拟合BSDF测量数据 sowd`I~  
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 9Ew7A(BG_3  
4.3来自颗粒污染的散射 6AvHavA^Y  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） >S1)YKgz  
颗粒密度函数模型 `gpQW~*R-;  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 hH
->%*  
4.4来自黑处理表面的散射 R8
-^RvG  
4.5孔径衍射 .lBgp=!  
杂散光程序中的孔径衍射 7 uMd ZpD  
衍射元件的衍射特性 >sD4R}\})  
案例：衍射杂散光分析 1AHx"e,;L  
5.大气湍流散射 RGIoI]_  
6热辐射 KECElK3uj  
红外热辐射的杂散光分析 Nw
c!r(  
冷反射仿真 v)f7};"z   
7. 鬼像反射 /ahNnCtu?1  
 鬼像反射 1|ZhPsD.}g  
 表面镀膜 3L_I[T$s  
 表面镀 AR 增透膜的仿真 1/ZR*fa  
8. 光学设计中的杂散光控制 C#i UP|7hh  
8.1 使用视场光阑 w?mEuXc  
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 85IMdZ7I  
8.3 使用眩光光阑（Lyot stop） (X+s-4%  
8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 lFUWV)J\  
8.5 使用滤光 tfkr+ /  
8.6 显微镜中的杂散光分析 #hL*rbpT  
9. 挡板和冷窗的设计 +'#oz+  
9.1 主挡板和冷屏的设计 1ndJ+H0H  
9.2 挡光环的设计 ~u&|G$1!0  
 槽型挡光环 \aP6_g:N}  
 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 4'Xgk
8)  
 案例：望眼镜系统的挡板的优化 8BXqZVm.  
10. 角分辨散射光测量技术 RGD
]8mw  
10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF m-V02's  
10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 V5D
2\n3A  
10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 _7kM]">j  
10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 P20|RvE  
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