[培训]3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程 [复制链接]

时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司   苏州黉论教育咨询有限公司 G2mNm'0  
授课时间：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 nR5bs;gk"  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 hQh9ok8S  
课程讲师：讯技光电高级工程师 67<CbQZoN3  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) ~] =?b)B  
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF 与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5 天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5 天） yYAnwf  
1. 杂散光介绍与术语 4 9w=kzo  
1.1 杂散光路径 {ctwo X[;  
1.2 关键面和照明面 bLG]Wa  
1.3 杂光内部和外部杂散光 rb_Z5T  
2. 基本辐射度量学-辐射 d O A%F$Mk  
2.1 BSDF 及其散射模型 OK
Y+M^PP  
2.2 TIS 总散射概念 Mps *}9  
2.3 PST(点源透射比) O OlTrLL  
3.杂散光分析中的光线追迹 }6~)bLzI}  
3.1FRED软件光线追迹介绍 2o{@nN8%  
3.2构建杂散光模型 +802`eax  
定义光学和机械几何 ,zgNE*{Y"4  
定义光学属性 hN4VlNKu  
3.3光线追迹 +BB0wY  
使用光线追迹来量化收敛速度 oXc/#{NC  
重点采样 c
qQRU  
反向光线追迹 QJ<[Zx  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 4UCwT1  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 9={N4}<  
使用GPU来进行追迹 u7k|7e=xk  
RAM内存使用设置 RebTg1vGu  
4.散射模型 #4y,a_)  
4.1来自表面粗糙的散射 )bW5yG!  
低频、中频、高频 D3?N
<9g  
RMS粗糙度与BSDF的关系 GJak.,0t  
由PSD推导BSDF _'JRo%{xGX  
拟合BSDF测量数据 J/S{FxNe]  
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 qc0 B<,x7  
4.3来自颗粒污染的散射 )1_(>|@oi  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） UD*+"~
 
颗粒密度函数模型 XV2=8#R  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 yisLypM*  
4.4来自黑处理表面的散射 "|4jPza  
4.5孔径衍射 {,f[r*{Y  
杂散光程序中的孔径衍射 rb
h[j@s@  
衍射元件的衍射特性 IxP^i{/1?  
案例：衍射杂散光分析 2Guvze_bU  
5.大气湍流散射 a;&}zcc*  
6热辐射 1l]C5P}E  
红外热辐射的杂散光分析 v |i
fI  
冷反射仿真 56ZrC
r  
7. 鬼像反射 G7Ny"{Z  
 鬼像反射 0#`)Prop6  
 表面镀膜 Qu}N:P9l?X  
 表面镀 AR 增透膜的仿真 6PJ'lA;*b  
8. 光学设计中的杂散光控制 EW;1`x  
8.1 使用视场光阑 ,eK2I Ao  
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 ;Id
"n7W  
8.3 使用眩光光阑（Lyot stop） a 2Et,WA%  
8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 VKf6|a
e  
8.5 使用滤光 @Z=wE3T@  
8.6 显微镜中的杂散光分析 qL>v&Rd<  
9. 挡板和冷窗的设计 ".M:`BoW4  
9.1 主挡板和冷屏的设计 \>;%Ji  
9.2 挡光环的设计 ~y@& }  
 槽型挡光环 !OQuEJR  
 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 iPkT*Cl8  
 案例：望眼镜系统的挡板的优化 ~ a>S#S  
10. 角分辨散射光测量技术 '8={ sMy  
10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF 5*XH6g F  
10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 }#|2z}!  
10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 h/9Sg*k  
10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 AgCs;k&IG  
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