[培训]3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程 [复制链接]

时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司   苏州黉论教育咨询有限公司 Y -BZV |  
授课时间：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 RigS1A\2l  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 ,,EG"Um6  
课程讲师：讯技光电高级工程师 "{S4
YA  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) 'q/C: Yo  
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF 与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5 天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5 天） k=Wt57jt  
1. 杂散光介绍与术语 ,{"K^  
1.1 杂散光路径 Kzt:rhiB  
1.2 关键面和照明面 8PeVHpZ  
1.3 杂光内部和外部杂散光 =RWY0|f  
2. 基本辐射度量学-辐射 # NK{]H$fd  
2.1 BSDF 及其散射模型 <#Fex'4  
2.2 TIS 总散射概念 t
g%<@U`7=  
2.3 PST(点源透射比) +N~{6*@uz,  
3.杂散光分析中的光线追迹 DB jUHirK  
3.1FRED软件光线追迹介绍 i)'u!V  
3.2构建杂散光模型 b5|l8<\  
定义光学和机械几何 X2~KNw  
定义光学属性 i7\>uni  
3.3光线追迹 +K=RMqM-8  
使用光线追迹来量化收敛速度 3!?QQT,!)  
重点采样 Ym]rG 4  
反向光线追迹 &&}c R:U,  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 I2z7}*<u  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 Vhm^<I-d  
使用GPU来进行追迹 u
9
1  
RAM内存使用设置 4^6Oh#p0
 
4.散射模型 RzB64  
4.1来自表面粗糙的散射 b?9'-hK<  
低频、中频、高频 gs@^u#O  
RMS粗糙度与BSDF的关系 }ZwnG=7T?  
由PSD推导BSDF (Zy=e?E,  
拟合BSDF测量数据 S[rfcL"  
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 lm'.G99{  
4.3来自颗粒污染的散射 7` XECIh  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） hB:+_[=Kj.  
颗粒密度函数模型 e [F33%  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 kl&_O8E+K  
4.4来自黑处理表面的散射 7vH4}S\ q  
4.5孔径衍射 jd+HIR  
杂散光程序中的孔径衍射 `lO/I+8  
衍射元件的衍射特性 _B]Bd@<w  
案例：衍射杂散光分析 Oo\~'I  
5.大气湍流散射 ;ZrFy=Iv  
6热辐射 `UkjrMO  
红外热辐射的杂散光分析 n;dWb$:  
冷反射仿真 R?*-ZI[>w  
7. 鬼像反射 B7'2@+(  
 鬼像反射 Ujly\ix`  
 表面镀膜 I|mxyyf  
 表面镀 AR 增透膜的仿真 `\-MpNw  
8. 光学设计中的杂散光控制 y2C/DyuAY|  
8.1 使用视场光阑 RQn3y-N]  
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 dp1t]  
8.3 使用眩光光阑（Lyot stop）
PzLV}   
8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 #|e5i9l*B  
8.5 使用滤光 9+>%U~U<  
8.6 显微镜中的杂散光分析 -g vS3`lX  
9. 挡板和冷窗的设计 Od]wh  
9.1 主挡板和冷屏的设计 {O[ !*+O  
9.2 挡光环的设计 fli7Ow?M~  
 槽型挡光环 t2%gS" [  
 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 iB'g7&,L  
 案例：望眼镜系统的挡板的优化 Qc:Sf46O  
10. 角分辨散射光测量技术
7.v{=UP  
10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF D_cd l^  
10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 @]{:juD~  
10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 (WS<6j[q  
10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 jM(!!AjpC  
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