时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司
nd_+g2x' 授课时间:2024/3/15(五)-3/17(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00
ixm-wZI 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室
;~CAHn|Fe 课程讲师:讯技光电高级工程师
:08b&myx 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)
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^ 课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF 与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5 天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5 天)
(v+nn1, 1. 杂散光介绍与术语
qS1byqq78l 1.1 杂散光路径
!~#zH0# 1.2 关键面和
照明面
E}LYO: 1.3 杂光内部和外部杂散光
BC.~wNz6 2. 基本辐射度量学-辐射
}TfZ7~o[ 2.1 BSDF 及其散射模型
9f1,E98w_ 2.2 TIS 总散射概念
"jS@ug 2.3 PST(点源透射比)
cih[A2lp 3.杂散光分析中的
光线追迹
y:,Ro@H% 3.1FRED软件光线追迹介绍
90<z*j$EK 3.2构建杂散光模型
}rK9M$2]u 定义光学和机械几何
T rK-XTev 定义光学属性
i286 J. 3.3光线追迹
xDJ@MW# 使用光线追迹来量化收敛速度
!(2rU @. 重点采样
{HoeK>rd 反向光线追迹
CCx_|> 控制光线Ancestry以增加收敛速度
b{4@~>i 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
G)5R
iRcs 使用GPU来进行追迹
'y_<O |- RAM内存使用设置
w1>uD] 4.散射模型
&gGh%:`B 4.1来自表面粗糙的散射
9vX~gh{]~ 低频、中频、高频
A><w1-X&=o RMS粗糙度与BSDF的关系
@s7ZfV?? 由PSD推导BSDF
P?WS=w*O0 拟合BSDF测量数据
f0!i<9< 4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射
!g|)?XWc 4.3来自颗粒污染的散射
dZMf5=tb 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
9W5~I9% 颗粒密度函数模型
olLVT<
案例:计算
激光通过金属粉尘的吸收
ArK%?*`5 4.4来自黑处理表面的散射
=emcs% 4.5孔径衍射
#POVu|Y;h 杂散光程序中的孔径衍射
L?h'^*F H} 衍射元件的衍射特性
~F; ~ 案例:衍射杂散光分析
Ov<EOK+^ 5.大气湍流散射
dC,a~`%O 6热辐射
T- ~l2u|s 红外热辐射的杂散光分析
EjY8g@M;t 冷反射仿真
gdr"34%vbM 7. 鬼像反射
$f>h_8cla 鬼像反射
L[s7q0 F`l 表面镀膜
NAg9EaWja{ 表面镀 AR 增透膜的仿真
;zF3e&e( 8.
光学设计中的杂散光控制
o*5iHa(Qm 8.1 使用视场光阑
E!Ljq 3iT` 8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量
A [c1E[ 8.3 使用眩光光阑(Lyot stop)
kMS&"/z 8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射
Fi!BXngbd 8.5 使用滤光
|^:qJ;dOP 8.6 显微镜中的杂散光分析
-/w#f&Y+]8 9. 挡板和冷窗的设计
Sj(5xa[ 9.1 主挡板和冷屏的设计
.Tm m 9.2 挡光环的设计
!v fbgK 槽型挡光环
<y`MUpf] 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔
A.YXK%A% 案例:望眼镜系统的挡板的
优化 Q%T[&A}3B 10. 角分辨散射光测量技术
NpPuh9e{ 10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF
S&JsDPzSd 10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍
vw 10.3 BSDF 散射测量关键
参数介绍
XK+"
x! 10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度
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