[培训]3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程 [复制链接]

时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司   苏州黉论教育咨询有限公司 E52:c]<'m  
授课时间：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 Dl!'_u  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 xuC6EK+  
课程讲师：讯技光电高级工程师 ZkG##Jp\>  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) o0v m?CL#  
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF 与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5 天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5 天） ,PtR^" Mf4  
1. 杂散光介绍与术语 YH6K-}  
1.1 杂散光路径 cyn]>1ZM  
1.2 关键面和照明面 h-u*~5dB<&  
1.3 杂光内部和外部杂散光 (#>5j7i8#  
2. 基本辐射度量学-辐射 ]$X=~>w  
2.1 BSDF 及其散射模型 8XXTN@&,  
2.2 TIS 总散射概念 C]@B~X1H^  
2.3 PST(点源透射比) hYQ%|CBXBR  
3.杂散光分析中的光线追迹 "e?#c<p7  
3.1FRED软件光线追迹介绍 6v#sq  
3.2构建杂散光模型 7VD7di=D  
定义光学和机械几何 |6G5 ?|  
定义光学属性 l%V}'6T  
3.3光线追迹 5 BG&r*U  
使用光线追迹来量化收敛速度 8IcQpn#  
重点采样 1>*<K/\qg  
反向光线追迹 #nL0Hx7]E  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 {twf7.eY  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 Y{B_OoTun  
使用GPU来进行追迹 W5yu`Br  
RAM内存使用设置 y")>"8H  
4.散射模型 ;:YjgZ:+Q]  
4.1来自表面粗糙的散射 =|^W]2W$  
低频、中频、高频  Z~:lfCK`  
RMS粗糙度与BSDF的关系 )%W2XvG  
由PSD推导BSDF /60=N`i  
拟合BSDF测量数据 { ^k,iTx
 
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 W..>Ny;'3  
4.3来自颗粒污染的散射 t$Ji{t-  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） um4zLsd#v  
颗粒密度函数模型 )x $Vy=  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 DxG'/5jQ[  
4.4来自黑处理表面的散射 aYX'&k `  
4.5孔径衍射 ` R-np_  
杂散光程序中的孔径衍射 v2<gkCK^  
衍射元件的衍射特性 rW .0_*  
案例：衍射杂散光分析 [aUT #
 
5.大气湍流散射 S5p\J!k\B  
6热辐射 f)fw87UPc  
红外热辐射的杂散光分析 :H k4i%hGk  
冷反射仿真 agot (  
7. 鬼像反射 ImW~J
y  
 鬼像反射 MH(g<4>*  
 表面镀膜 >sY+Y22U  
 表面镀 AR 增透膜的仿真 X0L{#U  
8. 光学设计中的杂散光控制 qWK7K%-$E  
8.1 使用视场光阑 ZSf+5{2m  
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 CawVC*b3  
8.3 使用眩光光阑（Lyot stop） zL}DLfy>R  
8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 ,o6: V]a  
8.5 使用滤光 (S{c*"}2  
8.6 显微镜中的杂散光分析 FV,SA3  
9. 挡板和冷窗的设计 wYM{x!D  
9.1 主挡板和冷屏的设计 Hc3/`.nt  
9.2 挡光环的设计 iIRigW  
 槽型挡光环 "Vy\-^  
 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 G*V 7*KC  
 案例：望眼镜系统的挡板的优化 dRC+|^rSC  
10. 角分辨散射光测量技术 <\NXCUqDpo  
10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF !9Ni[8&Fg0  
10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 \}c50}#0  
10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 < duM8  
10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 q|\Cp  
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