[培训]3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程 [复制链接]

时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司   苏州黉论教育咨询有限公司 H \'1.8g/  
授课时间：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 p_X{'=SQ1  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 1b86@f  
课程讲师：讯技光电高级工程师 ^bP`Iv  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) n$v4$_qS  
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF 与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5 天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5 天） ib~i ^_p  
1. 杂散光介绍与术语 [YZgQ  
1.1 杂散光路径 :Zx|=  
1.2 关键面和照明面 TiF+rA{t  
1.3 杂光内部和外部杂散光 b%vIaP|]B  
2. 基本辐射度量学-辐射 (\!?>T[En  
2.1 BSDF 及其散射模型 u0A$}r$L  
2.2 TIS 总散射概念 [cco/=c  
2.3 PST(点源透射比) v$w}UC%uf  
3.杂散光分析中的光线追迹 iJZNSRQJ}r  
3.1FRED软件光线追迹介绍 Ga-cto1Y  
3.2构建杂散光模型 kD?@nx>  
定义光学和机械几何 *8po0s  
定义光学属性 0{ ~2mggh  
3.3光线追迹 l1KgPRmEP  
使用光线追迹来量化收敛速度 qDYNY`  
重点采样 _>rM[\|X  
反向光线追迹 wc.=`Me  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 x
)GheM^  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 RV);^, b  
使用GPU来进行追迹 ,B_c  
RAM内存使用设置 C#^y{q  
4.散射模型 tfZ@4%'  
4.1来自表面粗糙的散射 M=lU`Sm  
低频、中频、高频 yj#*H  
RMS粗糙度与BSDF的关系 GZ,MC?W  
由PSD推导BSDF 8?Ju\W  
拟合BSDF测量数据 #o7)eKeQ  
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 Mgi~j.[  
4.3来自颗粒污染的散射 d9BFeq8  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） B+mxM/U[c  
颗粒密度函数模型 ;{L[1OP%e  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 euVDrJ^  
4.4来自黑处理表面的散射 "lLh#W1d  
4.5孔径衍射 Bv!{V)$  
杂散光程序中的孔径衍射 J"LLj*,0"  
衍射元件的衍射特性 CbC[aVA=  
案例：衍射杂散光分析 2l+L96  
5.大气湍流散射 y<6c*e1  
6热辐射 ES AX}uF  
红外热辐射的杂散光分析 kLF`6ZXtd  
冷反射仿真 At?|[%<`  
7. 鬼像反射 , ?U)mYhI  
 鬼像反射 {H)hoAenA  
 表面镀膜 !%ju.Xs8  
 表面镀 AR 增透膜的仿真 ]%HxzJ  
8. 光学设计中的杂散光控制 ?d^6ynzn  
8.1 使用视场光阑 e15yDwvB  
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 _:=\h5}8  
8.3 使用眩光光阑（Lyot stop） ,]7ouH$H}
 
8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 ZY]$MZf5yo  
8.5 使用滤光 G<D8a2q  
8.6 显微镜中的杂散光分析 D 5n\h5  
9. 挡板和冷窗的设计 1W{oj  
9.1 主挡板和冷屏的设计 |-b\N6 }  
9.2 挡光环的设计 boGdZ2$h4  
 槽型挡光环 Zk((VZ(y  
 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 sTl^j gV7j  
 案例：望眼镜系统的挡板的优化 I`X!M!dB)  
10. 角分辨散射光测量技术 xb3G,F  
10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF bs?\ )R5/  
10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 zGR,}v%%  
10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 {VW\EOPV~  
10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 RQ=$, i`  
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