[培训]3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程 [复制链接]

时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司   苏州黉论教育咨询有限公司 ,L bBpi=TJ  
授课时间：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 :+Om]#`Vls  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 sm[94,26  
课程讲师：讯技光电高级工程师 QTX8 L  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) YW u cvw&  
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF 与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5 天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5 天） evkH05+;W  
1. 杂散光介绍与术语 D%6;^^WyUx  
1.1 杂散光路径 )9l^O  
1.2 关键面和照明面 B(xN Gs  
1.3 杂光内部和外部杂散光 $`R6=\|  
2. 基本辐射度量学-辐射 AdRX`[ik  
2.1 BSDF 及其散射模型 N_:qRpp6i  
2.2 TIS 总散射概念 tyaA\F57  
2.3 PST(点源透射比) 4vBL6!z:Z  
3.杂散光分析中的光线追迹 9z)5Mdf1j  
3.1FRED软件光线追迹介绍 E|'h]NY  
3.2构建杂散光模型 J+d1&Tw&  
定义光学和机械几何 ?T+q/lt4  
定义光学属性 7i&:DePM'q  
3.3光线追迹
y6]vl=^L  
使用光线追迹来量化收敛速度 a:QDBS2Llv  
重点采样 \]$IDt(s  
反向光线追迹 p-.n3AL  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 ]Oq[gBL"A  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 KM^ufF2[  
使用GPU来进行追迹 i[wb0yL  
RAM内存使用设置
.t
D
*2  
4.散射模型 RV@*c4KvO+  
4.1来自表面粗糙的散射 Q0EiEX)  
低频、中频、高频 g=I8@m  
RMS粗糙度与BSDF的关系 \=_{na_  
由PSD推导BSDF AU2i%Q!  
拟合BSDF测量数据 =s<( P1|"  
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 qucq,Yw  
4.3来自颗粒污染的散射 yj^+G  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） \hCH
>*x<  
颗粒密度函数模型 bV,}Pp+/"!  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 w*R$o
 
4.4来自黑处理表面的散射 ,\NFt`]j  
4.5孔径衍射 GvBHd%Ot  
杂散光程序中的孔径衍射 n=[/Z!  
衍射元件的衍射特性 Z?\>JM >;  
案例：衍射杂散光分析 jy'13G/
b\  
5.大气湍流散射 G37U6PuZi  
6热辐射 812$`5l  
红外热辐射的杂散光分析 ght$9>'n  
冷反射仿真 thhwN A  
7. 鬼像反射 -\C!I
 
 鬼像反射 jYKor7KTqT  
 表面镀膜 1YH+d0UGn  
 表面镀 AR 增透膜的仿真 <i,U )Tt^C  
8. 光学设计中的杂散光控制 U*)8G  
8.1 使用视场光阑 6fw(T.Pe  
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 0\eIQp  
8.3 使用眩光光阑（Lyot stop） lv04g} W  
8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 j:VbrR  
8.5 使用滤光 !jTcsN%  
8.6 显微镜中的杂散光分析 ~;N^g4s  
9. 挡板和冷窗的设计 :5{wf Am  
9.1 主挡板和冷屏的设计 %\:[ o  
9.2 挡光环的设计 ,k;^G>< =  
 槽型挡光环 ;5)P6S.D  
 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 Om5Y|v"*  
 案例：望眼镜系统的挡板的优化 ,'u W*kx  
10. 角分辨散射光测量技术 @<elq'2  
10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF ynQ: >tw  
10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 h5^Z2:#  
10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 U[ 0=L`0e  
10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 z*!%g[3I  
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