[培训]3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程 [复制链接]

时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司   苏州黉论教育咨询有限公司 8&?kr/_Vr  
授课时间：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 We7~tkl(  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 k&Z3v.  
课程讲师：讯技光电高级工程师 p4},xQzB  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) N6CWEIJ  
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF 与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5 天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5 天） QiDf,$t|,  
1. 杂散光介绍与术语 MDETAd  
1.1 杂散光路径 c*0pF=3  
1.2 关键面和照明面 SCbN(OBN!  
1.3 杂光内部和外部杂散光 w[g(8#*  
2. 基本辐射度量学-辐射 f5)4H  
2.1 BSDF 及其散射模型 WH`E=p^x4  
2.2 TIS 总散射概念 ym*,X@Qg^  
2.3 PST(点源透射比) jpND"`Q  
3.杂散光分析中的光线追迹 @WcK<Qho  
3.1FRED软件光线追迹介绍 n<Vq@=9AE  
3.2构建杂散光模型 '2`MT-  
定义光学和机械几何 K(*QhKX  
定义光学属性 ["FC  
3.3光线追迹 &V.ps1  
使用光线追迹来量化收敛速度 \SB~rz"A  
重点采样 ?sF<L/P0 F  
反向光线追迹 45cMG~]p  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 %onUCN<O`  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 OC0dAxq  
使用GPU来进行追迹 V0'T)  
RAM内存使用设置 *.g0;\HF  
4.散射模型 WJH)>4M#  
4.1来自表面粗糙的散射 gQ]WNJ~>  
低频、中频、高频 JzhbuWwF-  
RMS粗糙度与BSDF的关系 [X >sG)0S~  
由PSD推导BSDF j8lWra\y  
拟合BSDF测量数据 1Ql\aO)  
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 T<!&6,N A  
4.3来自颗粒污染的散射 [3Qu @;"&  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） 5)=XzO0  
颗粒密度函数模型 M,0@@:  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 VUfV=&D-*g  
4.4来自黑处理表面的散射 Qg dHIMY  
4.5孔径衍射 l=jfgsj
c  
杂散光程序中的孔径衍射 %m\dNUz4g  
衍射元件的衍射特性 4JlB\8rc  
案例：衍射杂散光分析 $6
p_`LD0  
5.大气湍流散射 }=kf52Am,}  
6热辐射 7_$Xt)Y{  
红外热辐射的杂散光分析 WdXi  
冷反射仿真 !1MSuvWP  
7. 鬼像反射 .gPE Qc+D  
 鬼像反射 {~=Edf  
 表面镀膜 NL})_.Og  
 表面镀 AR 增透膜的仿真 6
#NptXB  
8. 光学设计中的杂散光控制 c*+yJNm3>  
8.1 使用视场光阑  T~I5W=y  
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 [UJC/GtjS  
8.3 使用眩光光阑（Lyot stop） CTu#KJ?j  
8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 :*GLLjS;  
8.5 使用滤光 ;F)gr  
8.6 显微镜中的杂散光分析 8= jl]q$<  
9. 挡板和冷窗的设计 YyR)2j1O  
9.1 主挡板和冷屏的设计 ?y( D_NtL  
9.2 挡光环的设计 ]e0yC  
 槽型挡光环 _c}@Fi+E  
 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 ?A|8J5EV  
 案例：望眼镜系统的挡板的优化 ,Lt+*!;m  
10. 角分辨散射光测量技术 \k?uh+xl  
10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF y=!"++T]B<  
10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 _I;+p eq  
10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 F<8Rr#Z  
10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 &m=Xg(G~c  
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