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Gw)>i45 : >g FEA0- 元件内部场分析器：FMM允许用户可视化和研究微
结构和
纳米结构内部的电磁场分布。为此，使用傅立叶模态法/严格耦合波分析（FMM/RCWA）计算周期性结构（透射或反射、电介质或金属）内部的场。还可以指定场的哪一部分应该可视化：正向模式、反向模式或两者同时显示。
m6oaO9"K Z/hgr|&} 元件内部场分析仪：FMM @>sZ'M2mq
c})f&Z@< XUp'wP 元件内部场分析器：FMM是
光栅光学装置的独有功能，可提供光栅结构内部电磁场的可视化。
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T 评估模式的选择 N9A#@c0O wio}<Y6Xz O#962\ 为了更容易地区分入射场、反射场和透射场，可以仅评估正向或反向传播模式，或者评估两者的总和。
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:3 评价区域的选择 H~Fb=.h]U a2'f#[as ,a Bo
p# o)pso\; 元件内部场分析器：FMM可以输出整个元件（包括基板）内部的场，或者只输出一个堆栈或基块（基板）中的场。
3.?kxac ht 1d[ 不同光栅结构的场分布 a{FCg%vD) r 1)@ 7Nt 任意形状的光栅结构可以通过元件内部场分析仪进行分析。以下是几个例子：
yMoV|U6 _pS |b qF aX$Q} mgb 光栅结构的采样 MQ{.% H<`<5M 8 虽然分析仪为输出数据提供了一些采样选项，但
系统中定义的光栅表面必须正确采样（例如，分解点和过渡点的层数足够）。
c/Ykk7T9-- zZax![Z [R~ `6 Btgxzf 分解预览展示了如何根据当前采样因子对光栅结构进行采样。
gL:Vj %c awic9 uMH 光栅结构的充分采样意味着已经实现了收敛，即进一步增加采样不会显著影响产生的场。例如，如果层分解过于粗糙，则可能会由于纵断面中的大台阶而产生其他影响。
Ob#d;F 6,q }1- $)O=3dNbo 输出数据的采样：一维周期光栅（Lamellar） \6)]!$F6: tr t^o hmQ ;!9 对于1D周期性（片状）光栅，分析仪使用对话框“采样”部分中指定的
参数生成2D横截面
图像。
5v`[c+@F e(~9JP9 输出数据的采样：二维周期光栅 (q]_&% yW F?B`rw@xr 当分析的光栅设置为2D Periodic时，Field Inside Component Analyzer：FMM将通过结构生成一系列二元截面，z方向的采样参数决定执行的切割次数。
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