摘要 |"j{!Ei
'T!^H
iJ&*H)}^
~pv|
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 &7K 4tL
Wu}84W"!.V
建模任务 0|a ,bwZ
F(!9;O5J]
/0.m|Th'm
{WYJQKs8
由于组件倾斜引起的干涉条纹 cdBD.sg
ZGa;'
fJiY~mQ
HLlp+;CF><
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 yYdow.b!
e7n[NVrX