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摘要 <l!{j? Kx <4%cKW0 <!G%P4) kC8M2 |L 干涉测量法是一项用于 光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、 机械和热变形的高 精度测量。作为一个典型示例,在非 序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干 激光源的马赫-泽德 干涉仪。该例证明了 光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ==]BrhZK dh0n B 建模任务 Je &O HY>zgf,0 DU|>zO% hRaX!QcG3 由于组件倾斜引起的干涉条纹 4qvE2W}& 'MK"*W8QRM ~/l5ys `:#IZ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 4Gor*{ )Rc
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