[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

摘要 iD)P6"  
;nw}x4Y[  
g`I$U%a_2  
4$^rzAi5  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 9E2OCLWrE  
A
\-r%&.  
建模任务 4XN
kto  
nVoP:FHH  
% |G"ZPO?  
Lm7fz9F%
 
由于组件倾斜引起的干涉条纹 UUEbtZH;  
qJK-HF:#  
hx hs>eY  
C^ZDUj`  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 d(F4-kBd  
"O<TNSbrC