[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

摘要 J5r L7  
{~ vPq  
(>/Dw|,m  
+r34\mAO  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ieK'<%dxF  
@eD2<e  
建模任务 l'X?S(fiV  
_[6+FdS],  

m_Y}>  
~s^6Q#Z9|  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 i2Iu2  
.m % x-i  
dXr !_)
i  
Tlv|To  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 &qj&WfrB,  
d(cYtM,P