[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

摘要 _a$5"  
P9`CW  

图片:1-2001131145515B.png

-; d{}F  
-`spu)  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 K",Xe>  
}(na)B{m  
建模任务 $*XTX?,'  
:*l\j"fX5  

图片:1-20011311463NK.png

cZ`%Gt6g  
xjxX4_  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 ,5~C($-t  
rnMi >?  

图片:1-200113114J9335.png

]-heG'y]{  
8c%N+E]  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 vgNrHq&2q  
:c}PW"0v  

图片:1-200113114Q3324.png