[技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

摘要 ~`!{5:v  
q7aH=dhw  
d45mKla(V  
)^[PW&=W|x  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 dA[S@ysvG  
a8v9j3.  
建模任务 PsOu:`=r  
|N+uEiJ  
-XMWN$Ah  
?7cT$/4  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 TBu[3X%  
nv}z%.rRUj  
[l:}#5\]4  
E0_S+`o2y  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 yl UkVr   
l<dtc[