摘要 ynd}w
G'
Z:OO|x
/>oU}m"k
NR [VGZj
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 -Tt}M#W
4NzHzn
建模任务 lt]U?VZ
!6%mt} h
OH(+]%B78
%)e+w+
由于组件倾斜引起的干涉条纹 th<]L<BP/
)}aF=%
-,tYfQ;:
:tgTYIF
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ][mc^eI0s|
{+EPE2X=C