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摘要 STr&"9c UBgheu
{JJq/[j m(B,a,g< 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 I6jDRC0< 5kRP
Sfh 建模任务 YH:murJMZ 'Q^P#<<
i*T>,z )[w_LHKI 微结构 A9?h*/$ p+t79F.js
gz,x6mnQ
ug|'}\LY Zi!6dl ev 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: $bGe1\ B!;qz[]I 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 iG.qMf. 5D~>Ed; 微结构组件的配置 n#NE.ap$&, r8k.I4
Sh]g]xR XDot3)2` - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 Tej&1'G - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 6F@2:]W - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 Q9[$8 - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 k=7+JI"J kW
7$ 总结-组件… ;&A%"8o o:.6{+|N
"I7 Sed7 +Vf39}8 XW^Sw;[efZ x+X^K_* 监测器平面上的衍射图案 8.g(&F )=PmHUd
T VuDK -t5DcEAb$ 监测器平面上的衍射图案 Uc?4!{$X |, Lp1
opQdym .;:jGe( 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 oD0N<Ln} =`
%iv|>r0 高度缩放调制 :.K#=ROP Py3Y*YP
]t23qA@^2 [^J2<\<0 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 2f=7`1RCD IIrXI8'}
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