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摘要 /^~p~HKtx >2nF"?"=
<Ak:8&$O f<^ScFVR 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 sN;(/O ;r%<2( 建模任务 x
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j`{fB} Ia=&.,xub 微结构 i_|h{JK) Io2,% !D
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4$..r4@ >\Z lZ 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: G,+xT}@wu is64)2F]( 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 $U\!q@'$ }{P&idkv 微结构组件的配置 nR(#F 9 i?lX,9%
G[ ,,L ="/R5fp - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 jM{qRfOrg - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 \o0z@Ntq - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。
11PLH0 - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 ;|Y2r^c Ar\IZ_Q 总结-组件… I|GV
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{ +i; e]c s4^[3|Zrr0 s$K@X ` UDhwnGTq(l 监测器平面上的衍射图案 $0S.@wUG Dh*~U:6$g
$_4oN(WSz ;4+qPWwq8W 监测器平面上的衍射图案 se4w~\/ dw|-=~
AaJ,=eQ :_W0Af09 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 ,{#RrF e d,Im&j_Z 高度缩放调制 9\\@I
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m0dFA<5- {s9y@c*15. 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 |;xfe"] D4YT33$tC
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jC)6mo VirtualLab Fusion技术 PM#$H u *#-7
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