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摘要 vd}*_d 1GtOA3,~;-
[E>R.Oe -uWKY6
:5 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 Fr-[UZ~V J &!B|TS 建模任务 zKLn!b#> Dp*:Q){>E
Bvz62? ngP7'1I 微结构 v&xKi>Ail AD^X(rW
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(NX)oP R0%?:!
F 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: ]Ap` Bi]D{m9 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 81Z4>F: U.: sK* 微结构组件的配置 Fse['O~ >):m-I
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W _ )8;{nqoC - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 XE9)c
- 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 |U#DUqw - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 R1}IeeZO?& - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 M
Hg6PQIB d7* CwY9" 总结-组件… )o{VmXe@@ Zvxp%dES
HOfF"QAR$ zLP],wB NS@{~;#R MU|{g
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) 监测器平面上的衍射图案 [g#s&bF [OzzL\)3l
0 h22V$ V]rhVMA 监测器平面上的衍射图案 Rp0|zP,5 yO=p3PV d
cf)J ) n12UBvc}% 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 4.8nY\_WF 3L>d!qD 高度缩放调制 |Ab{H% 2JVxzj<~`
ryg4hHspl ~b Rd)1 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 &'s^nn] [Eu];
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VirtualLab Fusion技术 zie=2 g` [` P@
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