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摘要 k(n{$ <I.anIB:U
?2ZggV ^WDAW#f*< 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 K\5'pp1 lWj|7 建模任务 K/;FP'. =2HR+
M{Ss?G4H >*ey 7g 微结构 w,L P M+ tB"amv
C`F*00M{
}V.Wp6"S j{,3! 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: ]^,<Ez (g2?&b
iuz 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 $x&@!/&|pv ajIgL<x 微结构组件的配置 BXgAohg! T:+%3+;a
'LZF^m _<< Uq/#\7/rL - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 (uG.s %I - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 +pU\;x - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 [KXxn>n - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 W69
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u 总结-组件… iq$edq[ `{fqnNJE
Ojj:YLlY> =G9%Hz5~: sGIY\% zHi+I7 监测器平面上的衍射图案 ,eq[X\B> ;\7TQ9z
zI/)#^ SQ 6zs&DOB 监测器平面上的衍射图案 P;[5#-e 8cn)ox|J[
@AUx%:}0Y: ^.Cfa 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 &fA`Od6l" >E^?<}E~. 高度缩放调制 K7}EL|Kx $2E n^
~Nf01,F AfKJaDKf 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 ($*bwqp]} S/-[OA>N
!cnun Lc` 8[(eV. VirtualLab Fusion技术 )t={+^Xe jLC,<V*
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