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摘要 /bNVgK`L5 Z#cU#)`y1
@R-~zOv EH!EyNNb 衍射式分束器被广泛用于光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射光线的角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。 .}hZ7>4- HU'`kimWb 建模任务 B,VSFpPx ^)0{42!]
kmwrv -W 6'sFmC 微结构 <GFB'`L - m x3^
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W!Ct[t C;:1CK 反射型分光器是由Microstructure组件建模的。它可以在Components > Single Surface & Stack下找到。关于该组件的更多信息可以在以下栏目中找到: t+)GB=C WCfe!P?g 衍射光学元件(DOE)和微结构组件 Q]?J%P. &LxzAL,3! 微结构组件的配置 d[Fr ? Ge*~d
CR<pB)F?a j
BQqpFH9 - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。 g7Q*KA+ - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。 MPEBinE? - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。 ,E8>:-boL - 用于通过堆栈传播的精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。 2.&V wM&x8 < 总结-组件… uxJiec`& A[,"jh
?yM/j7Xn 2mp>Mn~K^ [t=+$pf(- ORPl^n- 监测器平面上的衍射图案 u$/2XO 8Carg~T@
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G3 om39;nk!} 监测器平面上的衍射图案 0}C}\1 ^d$e^cU
x 3co? mS;Q8Crh 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。 |/Q. "d 3UtXxL&L` 高度缩放调制 mt]YY<l EsxTBg
"=TTsxyM6P Oy`\8*Uy__ 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 8;Bwz RtgT 9v3Nba
(>lqp%G~ CpdY)SMSL VirtualLab Fusion技术 EBE>&{%$^ QS?9&+JM |
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