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摘要 >&VL2xLy u62sq: GjH
jz)H?UuDY 0D'Wr(U( 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 Yx"z&J9p r)t^qhn 任务说明 _=8+_OEk w# e'K-=
|(%H O@i -db+Y:xUZ 多重光源 xR:h^S^W ~ <-F"&LI{< +[ItkfSod! P5>CSWy% 螺旋相位板 "7HB3?2>W '!R,)5l0h
x}{VHp`|ld $ZS9CkN 探测器插件 z7q2+;L aM~fRra7
4i,SiFKB lQ/XJw 参数运行 ~S3eatM$9 i.sq^]j
lIz_0rE ZhsZywM 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: g1~I*!p u3vmC:bV Usage of the Parameter Run Document _
^{Ep/ME= [Ni4[\ 非时序建模 +&OqJAu GcR`{ 3hO
Q$1K{14I \#aVu^`eX 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 tWnm{mF &r%*_pX Channel Setting for Non-Sequential Tracing PoJ$%_a} er0D5f R 总结 – 组件… %7msAvbk s{e(- 7'
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]%|WE (L$~zw5gr 系统观感 hZ<btN.y5 :OCuxSc%5
It4z9Gh zU~..;C #[y<h3f] 发射&损耗激光 <(4#4=ivP jJZsBOW[8
pFTlhj)1 SFk#bh 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 Z=@) 5L}>+js2 -l H>8+ 3D STED 轮廓 WuFwt\U ex\W]5
{~fCqP.2 YM`pNtQ 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 @b\ S. A&c@8 受激发射损耗效应 QO{=Wi- 9K':Fn2, 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 t3t0vWE<, k%}89glm
liqR#< Ia`JIc^e VirtualLab Fusion 技术 drKjLo[y K;p<f{PE
:KSor}t f&}A!uLe4x 文件信息 .3<IOtD= hNnX-^J<o
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_vX 进一步阅读 W Gw!Y1wq • Simulation of Multiple Light Source in VLF vX0"S • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy UIOEkQ\Wl 8a`+h# 市场图片 {Mr~%y4 zLQ#GF
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