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摘要 0Ilvr]1a4 EjE`S_i=
HtYR 0J n >PM_W 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 %vYlu%c<
9QZ wUQ 任务说明 bK%tQeT |/\1nWD
7{F9b0zwk [\n.[4gq" 多重光源 }gRLW2&mR> \1'R}B@; _H<OfAO G6mM6(Sr 螺旋相位板 >,vW -mo
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rB|:r\Z(jG ~cj:AIF 探测器插件 (`/i1#nR |RXC;zt9s
]!o,S{a& UI|@5:J 参数运行 8&hn$~ate Cy'W!qH
*<QL[qyV TiEJyd`P 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: S%#Mu| Eakjsk Usage of the Parameter Run Document IVODR K
:ptfD 非时序建模 Dq4}VkY Jn&>Z? @
R:x04!}
|sM#g1D@ 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 D ,^
U%<` ,
)3+hnFY Channel Setting for Non-Sequential Tracing vz5RS g]JI}O*5 总结 – 组件… 5z]KkPQ )X$n'E
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yE{UV>ry i.,B
0s]Z 系统观感 q`zR 6 iPNsEQ0We
vu >@_hv ~36XJ uRhH_c-6C 发射&损耗激光 Ll48)P{+}V v3#47F)
s_kd@?=`x (:]iHg3 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 824%]i3 vtjG&0GSK H}rP{`m 3D STED 轮廓 y%Ah"UY :PkSX*E[q
nwH|Hs riU Ia"
Mi+{ 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 ueo3i1 #R|4(HlL 受激发射损耗效应 s#49pDN l%/,Ef*3 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 X)5O@"4 ? ^S$w,
v9kzMxs, w`:KexD+ VirtualLab Fusion 技术 ^r$5];n
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JDlIf wu'60po 文件信息 B)*%d7=x N?:S?p9R@
=2'^:4Z qILr+zH 进一步阅读 8yl/!O,v • Simulation of Multiple Light Source in VLF :6{HFMf" • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy GrIdQi^8 #y%Ao\~kG 市场图片 ,oe4*b}O=. IC~D?c0H:
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