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摘要 O;7)Hjw t &3J@BMYp
NEa>\K<\ 29XL$v], 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ~ %B<
`9k0Gd 任务说明 m Sk5u 7 yV)la@c
#+$Q+Z|6k 8w({\= 多重光源 1Bxmm# r-,e;o>9 64:fs?H /%lZu^ 螺旋相位板 #07g d#j4 0ZQ' _g|%
*%KKNT'* +l=r#JF 探测器插件 bI|2@HV2 YJ(*wByM
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6K u4Em%:Xj 参数运行 :_M;E"9R ePIiF_X
_HhbIU uYr fm:4S 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: DNP13wp@ y^o@"IYu3 Usage of the Parameter Run Document <T[E=# %/updw#{B 非时序建模 Le%ZV%, pKi& [
ExRe:^yU\ N>>uCkC 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 dK>7fy;mv @?"h
!fyu Channel Setting for Non-Sequential Tracing <]G]W/eB' %u;~kP|S% 总结 – 组件… ``E/m<r:$ s=42uKz
Mfv1Os:ST } (!EuLL
n@ G[ <oz!H[! 系统观感 =N 5z@;! yv)ux:P&+
Ao/ jt< N]RZbzK_5G W0}B'VS.I 发射&损耗激光 M`S0u~#tI |\n_OS7
6d+p7x $v Z$'( 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 jMpD+Mb H<1WbM:w b:w?PC~O 3D STED 轮廓 SB)5@
nmS @}kv-*
cp o-. Qqlup 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 RVeEkv[qp tr7<]Hm: 受激发射损耗效应 $HJwb-I : "1XPr 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 IUwm}9Q! 8n>9;D5n
`:axzCrCfR Zv#Ll@v VirtualLab Fusion 技术 ~9j%Hm0ht GQ
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3'O/! 3d|9t9v 文件信息 L5,NP5RC nR`ov1RH
'}$Dgp6e 4^URX>nx8 进一步阅读 aE2.L;Tk? • Simulation of Multiple Light Source in VLF NQ6sGL • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy NC38fiH_N >;[*!<pfK5 市场图片 {D=@n4JO I(XOE$3
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