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摘要 QV HI}3~ K(PSGlI f
l0URJRK{* I{>Z0+ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ,!alNNY C'y2!Q/" 任务说明 F[%k;aJ hcRe,}wJ
"4Q_F3?_` ;|oft-y 多重光源 @_$$'XA7 b=\chCRJJ @x}^2FE iu*&Jz)D> 螺旋相位板 u/S>*E \,X)!%6kZ
$ (xdF Sw"h!\c` 探测器插件 ezY^T |4
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trrK6(p g] }! 参数运行 O $e"3^Pa f.^|2T I1g
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X+{n 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: P7,g^:$ "M-';; Usage of the Parameter Run Document 7%? bl o3|4PAA/ 非时序建模 0asP,)i SpU|Q1Q/h
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ru 9@|FgAE 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 ;n*|AL7( (7b9irL&cn Channel Setting for Non-Sequential Tracing YZ8[h`z <bo)p6S& 总结 – 组件… ;zo|. YD )D/,QWk
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6s~B2t:Y %dW;P[0 系统观感 uF}dEDB|; I}|a7,8
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发射&损耗激光 (.@pe Hu)# bfoTGi
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-" S#8)N` 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 Jh&DL8` ]4[%Sv6]G i \/'w] 3D STED 轮廓 =JfwHFHd# h0k?(O
]N'%l]_$ 6=$<R4B 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 j|Vl\Z&o) x=7:D 受激发射损耗效应 $"|r7n5[ F$
G)vskd 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 i?(cp["7 .$}z</#!
YQHpW>z #9[> VirtualLab Fusion 技术 \rxjvV4fcZ :X'B K4EN
uQdy I9+h-t 文件信息 RDHK'PGA K.wRz/M&g
;K8}Yq9p9 N_B^k8j 进一步阅读 :P2!& W • Simulation of Multiple Light Source in VLF :ZB.I(v • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy `Rt w'Uz %RtL4"M2j 市场图片 ."BXA8c;A srN7
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