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摘要 |ctcY*+ l|Y?]LNr
yh'P17N|q VUQx"R9- 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 IE0hC\C} #Aver]eK 任务说明 EyK
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Z'cL"n\9R] N,0&xg3 多重光源 GU,ztO.w3 vFx0B? R[bI4|t [+2iwfD 螺旋相位板 D\LXjEme. I$Ra*r
cxB{EH,2Um `%<^$Ng; 探测器插件 H3Zsm)+: H\^zp5/
]7/6u.G7R (DTXc2)c 参数运行 VQ(l=k:}2 1R"?X'w
C4.g}q o'*7I|7a 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: nN*:"F/^ ~}@cSv'(1 Usage of the Parameter Run Document B4kJ 7Pdny F&6Xo]? 非时序建模 H"vy[/UcR abw7{%2
EL gq#z tGVC"a 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 =*'K'e>P3 b!gvvg< Channel Setting for Non-Sequential Tracing 'p> *4} FI=]K8 总结 – 组件… =&-+{txs NA-)7i*>J
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aS)Gj?Odf n/vKxtW 系统观感 Cj3C%W ~Kll.
]`H8r y2 \ Q E?.Fx t{g7 :A 发射&损耗激光 SMIr@*R k=``Avp?
L>>Cx`ASi wu`P=- 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 0$1-5XY9 -j"]1JLQ 9LK<u $C 3D STED 轮廓 |x/00XhS Qk#`e
"+k^8ki m)oGeD( ! 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 kY.3x#w c_dg/!Iu 受激发射损耗效应 Lju)q6 8TV
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n 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ffgb3 5* 3T+OK
['#3GJz- rc ()Eo50 VirtualLab Fusion 技术 x2@W,?oPm F?*ko,
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E,H 进一步阅读 ,3p$Z • Simulation of Multiple Light Source in VLF hJkF-yW • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 9n!IdqKN S3F8Chk5 市场图片 C)v*L#{% OHyBNJ
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