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摘要 K`hz
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.Y!;xB/ LGIalf*7 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 >b>MKm>q r4E`'o[ 任务说明 }>V/H]B * [tc
ZB828T3 i{8]'fM 多重光源 >SvDgeg_7f /xcJo g~F,
bRNK.[| nO~b=qO 螺旋相位板 -b
cG[W3 |/VL35b
t)9]<pN% cTM$ZNin 探测器插件 BI};"y *=Doe2(!C
Pg/T^n& !"Qb}g 参数运行 YMT8p\#rp t9.,/o,
{O)YwT$` u?F (1iN= 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: Z!=L 9`B0fv Q& Usage of the Parameter Run Document dIk'pA^d AYcgi 非时序建模 Hle\ON &y70
jyiFM5& e8,{|a 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 4QE=f(u;h abBO93f^ Channel Setting for Non-Sequential Tracing 3cqQL!Gm eIg+PuQD] 总结 – 组件… FEF"\O|Q cGNvEM(4AV
ocF>LR%P IU|kNBo
(S|a 9# kn}zgSO 系统观感 oV9z(!X/
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DzC Df@TB" n!G.At'JP nL+p~Hi 发射&损耗激光 CbOCk:,g5 Q".g.k
i5"5&r7r T~Ly^|Ihz 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 }_}KVI i@5)`<? WULAty 3D STED 轮廓 XE1$K_m @'i+ff\
)JhT1j Qc 4(=kE>n} 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 fW(/Loh {,?ss$L 受激发射损耗效应 ?[)yGRzO2 Izn
T|l^ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 K]/Od 2.-o@im0
?59'dGnz_ "uKFOV?j& VirtualLab Fusion 技术 E!J=8C.: M:|8]y@
$6h*lT< E]I$}>k 文件信息 19c@ `? A]o4Mf0>I
3[d>&xk@$ 1J{fXh 进一步阅读 0[xpEiDx • Simulation of Multiple Light Source in VLF &|9.}Z8U • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy /_t|Dry015 \X|sU:g 市场图片 tfYB _N ; s|w{.<:
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