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摘要 iU;e!\A `;E/\eG"
/,I cs DS<1"4 b| 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 eZLEdTScM AQlB_@ b 任务说明 ]:59c{O M
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}OL"38P r8J 7zTD& 多重光源 LdV&G/G-#D 3}0\W.jH 8w&-O~M ]R#:Bq!F 螺旋相位板 '6#G$ HU i?\4
(Q^sK\ Nr4:Gih 探测器插件 " B#|C' hfaU-IPcFX
d,b4q&^X8 RZm%4_p4s 参数运行 u dZOg EiL#Dwx
i2~uhGJ 0=j }` 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: V&M*,#(? &9p!J(C Usage of the Parameter Run Document QF#w$%7 Nr~$i% [ 非时序建模 c=oDzAzuV\ <v:VA!]
F4EAC|Y oJz2-PmX 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 jwDlz.sW! z8Q!~NN-K Channel Setting for Non-Sequential Tracing Km`
SR^&\ ~~tTr$ 总结 – 组件… Ts5)r( jFj11w1FrA
6#?T?!vZ 8M,*w6P
/4:bx#;A 1-KNXGb' 系统观感 {PHH1dC{ Zd*$^P,|
zfIo]M` 'cW^ S7 =}^NyLE? 发射&损耗激光 >XD?zF)6 PsY![CPrW
-/yqiC-yx `g)}jo`W 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 )`\hK U
v2.Jo/Q oL<#9)+2* 3D STED 轮廓 m&.LJ*uM\K X 'Ss#s>g
rf.pT+g.P N9e'jM>Oos 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 37#&:[w> 6j<9Y 受激发射损耗效应 QQ*sjK.( {%V(Dd[B6 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 ;O"?6d0 oxwbq=a6yV
m|a9T#B( t un}rdb VirtualLab Fusion 技术 t&r.Kf9Z\ "HMEoZ
"s2_X+4oY /sE,2X*BT 文件信息 d>NGCe b/SBQ"B%
7=G2sOC Kb.qv)6i* 进一步阅读 0Y.z • Simulation of Multiple Light Source in VLF ]-=L7a • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy L.Y3/H_ =~#mF<z5 市场图片 6#=jF[ z+"tAVB[i
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