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摘要 2po>%Cp * vMNv
,AO]4Ec $<(FZb= 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 Ow\dk^\-G8 ufekhj 任务说明 39(]UO6^; /X_g[*]?
lSzLR~=Au [j]3='2}G 多重光源 \Gk4J< ~:\QC ,>rr|O c{dge/2yb 螺旋相位板 ?4 fXCb]7 D+ )R_
B8'e,9 8;C_@ 探测器插件 SCZ6:P"$qX oS/cS)N20
`N69xAiy _*I@ J/ 参数运行 ,r-l^I3< ymxYE#q
"#a_--"k9 5D32d1A 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: ^K#PcPF-j eXqS9`zKr Usage of the Parameter Run Document 'F- wC! KAucSd` 非时序建模 El}."}l& AI|8E8h+D
cnUYhxE+s *P#okwp 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 $&@L[[xl rl0sN5n Channel Setting for Non-Sequential Tracing
B~o;,} me+F0:L 总结 – 组件… !8Rsz:7^- r
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uK:?6>H Iq@: n_~ 系统观感 Vd-\_VP20 aP%2CP~_ P
[84f[`!Ui vakAl; ]pZxbs&Vb 发射&损耗激光 :3z`+5Y* 1kG{z;9
CMm:Vea q"|,HpQ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 WW'8&:x PhHBmMGL ~VRt6C 3D STED 轮廓 n(|~z GWNLET
_Ra$"j 8E m X 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 `h>a2 9!u=q5+E 受激发射损耗效应 9aED6 E|(T(4; 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 >IL[eiiPG 9t.u9C=!F
+bG^SH2ke Q-3o k7 VirtualLab Fusion 技术 tSr.0'CE }=1#ANM1
2;Ij~~ u~|D;e 文件信息 ?R7>xrp5 mVg$z
{bxTODt@ Sn I-dXNF 进一步阅读 MeXzWLH • Simulation of Multiple Light Source in VLF 0w0\TWz* • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy CCCd=s. WOW:$.VO^ 市场图片 tOJK~%' rOt`5_2f
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