-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-11-17
- 在线时间1888小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 Ywmyr[Uh' F|6
nwvgq
&ycjSBK =[ s8q2V 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 0h^uOA; c K!9y+%01 任务说明 FMoJ"6Q GI}4,!^N
[+y&HNf EK^JLvyT 多重光源 aXQ&@BZ{j ?Y%}(3y UP}feN BO[+E'2 螺旋相位板 "&@gX_% (qJIu
rFf:A-#l iK ohuZr 探测器插件 uPI v/&HA <_=JMA5
1aBD^^Y 5BrU'NF 参数运行 @mvIt T@B"BoKU
4 U3C~J rH[5~U 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: d#E(~t(^ ?$UH9T9) Usage of the Parameter Run Document { k
kAqJ eVJ= .?r 非时序建模 CR%D\I$o mYntU^4f
.UNF~}^H g7.7E6%H 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 <sm#D"GpP X7t5b7 Channel Setting for Non-Sequential Tracing np<f, rd XCWK$E 总结 – 组件… 3yeK@>C kJHr&=VO~
t8L<x K4iI:
<ED8"~_ ~sZqa+jB0 系统观感 d\v$%0 CkmlqqUHC
NYWG#4D 6XQ*:N/4al |Dl*w/n
发射&损耗激光 N!tpzHXw 6Hc H'nmeN
MDMtOfe| |^YzFrc 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 5LDQ^n 9zXu6<|qrL F% F
c+? 3D STED 轮廓 3$GY,B r^?)F?n!
|
\ s2
N BV}4 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 !7ei1 M'pb8jf 受激发射损耗效应 z7OZ4R: J xA^DH 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 '"!z$i~G= "6NFe!/Y$*
utYnaeQcn vGx?m@ VirtualLab Fusion 技术 1x~%Ydy
FY1},sq
w8eG; l.__10{ 文件信息 !!?+M @ .`oJcJ
4+ASwN9 T0@](g 进一步阅读 @4 zi]v • Simulation of Multiple Light Source in VLF &"U9X"8b • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 8zP:*|D oV0LJ% 市场图片 .Q=2WCv0 [;>zqNy
_n-VgPRn
|