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摘要 !iNN6-v% =c-Y >
>'eY/>n{ Z2t'?N|_ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 O:%,.??<% &c AFKYt 任务说明 {)CN.z:O 8|cQW-L
No\3kRB4bi 5bj9S 多重光源 Eo)
#t{{ ZwFVtR Hf$pwfGcY] >D\jyd$wh& 螺旋相位板 h,*-V 'X.k B4#XQ-
%2I >0 hifC.guK 探测器插件 4[XiD*
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x/d(" Bb rOo|.4w 参数运行 -"CXBKHb
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WSsX*L {<P{uH\l 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: (teK0s;t5k NMvNw?] Usage of the Parameter Run Document /5wIbmz@I -V F*h.' 非时序建模 `9`T,uJe N<N uBtkA
/)J]m 2:jWO_V@ 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 L;
o$vI~U, -+HD5Hc Channel Setting for Non-Sequential Tracing lJJ`aYDp xt zjFfq 总结 – 组件… X(npgkVP\ '89nyx&W
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dcH@$D@~S 4(%LG)a4S 系统观感 T1U8ZEK<iu 2EC<8}CG
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m9!? 发射&损耗激光 DyCnL@ \"|7o8
K9tr Iy$v WzqYBa 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 (&!x2M <i ";5+ K}(@Ek 3D STED 轮廓 j2`%sBo Ca}V5O
S7h?tR*u E#VF7 9L 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 |0nt u+ 2o<aEn&7|e 受激发射损耗效应 _-:CU
$2>"2*,04 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 il[waUfmD ^0g!,L
2rWPqG4e NI85|*h VirtualLab Fusion 技术 ,DD}o #:xv]qb`k
>9Z7l63+} 2v`Q;%7O 文件信息 K)#6&\0tT BV)) #D9
xs^wRE_ :NynNu' 进一步阅读 E[Bj+mX9 • Simulation of Multiple Light Source in VLF V$g!#V • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy ^IqD^(Kb M&}_3 市场图片 \ch4c9 CE7{>pl
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