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摘要 X"v)9p ZrDr/Q~
Ny 7vId e `IL7$ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 s"0Hz"[^= Q%_MO`<]$ 任务说明 AF"XsEt.e vOBXAF
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CmU {3\{aZ8) 多重光源 =~{W;VZt' S(hT3MAW E>`gj~ 0J1&6b 螺旋相位板 C)+%9Edg <l^#FH
OG2&=~hOz- ?YhGW
探测器插件 wy#5p]!u r_M5:Rz
*vIC9./ O}q(2[*i 参数运行 >twog}% "o$)z'q
'8UhYwyr p (x<h 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 8jU6N*p/ ZTK)N Usage of the Parameter Run Document l =^ ^l` <~35tOpv 非时序建模 %jj\w> jI,?*n<
hquN+eIDH !i?aRI/6 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 S *K0OUq 9l:vVp7Uk Channel Setting for Non-Sequential Tracing H4g1@[{|0O qwHP8GU 总结 – 组件… Mg=R**s1x% #%SF2PB;
ny[\yj4F D 13bQ&\B-
A=pyaU`aE %vjfAdC 系统观感 }n$I #G}\/ z%Ivc*x5
#=aT Sw X PZO8<d =fy'w3m 发射&损耗激光 F]`_ak E
tf?"AY4
y_N h5 RWINdJZ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 BMovl4*5 C+Pw $5Tjo
T 3D STED 轮廓 %2EHYBQjN `NARJ9M
zc%HBZ3p ;@G5s+<l 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 2M3C
5Fu }R2afTn[; 受激发射损耗效应 udGZ%Mr_ RS
/*Dp^ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 n%={!WD
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L|K^w *\C cK~VNzsz VirtualLab Fusion 技术 QDJe:\n *K2fp=Ns
"c0Nv8_G WS1$cAD2N 文件信息 Lo^gg#o QN OA66
:ej`]yK | *4RL 进一步阅读 Q[UYNQ0w • Simulation of Multiple Light Source in VLF y`p(}X`> • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy %~^:[@xa* $JZ}=\n7 市场图片 "IKbb7x MFO1v%m
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