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摘要 *@,>R6)jI 9
6'{ES9D
Gp/yr s$ 2@ |; 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 :3x |U,wC |VL(#U 任务说明 a jCx"J ;9hi2_luV
Fhn=}7|4q DEw_dOJ( 多重光源 8f<[Bu ze 2$O@T] Bld $<uU ?X.MKNbp 螺旋相位板 nVC:5ie =wW3Tr7~
cR1dGNcp/@ bVc;XZwI 探测器插件 'MHbXFM TKsze]/q
t-$R)vZ}M t4H@ZvAH0 参数运行 VzR(OB YolO-5
0pS|t/h0 q1Si*?2W 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: /IS
j0"/$ #Pulbk8 Usage of the Parameter Run Document ,xew3c'(W Dm j^aFB0| 非时序建模 ''Y}Q" 3 G?^/nB
6.Nu[-? tZ]|3wp 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 ,))UQ7N Ne<"o]_M Channel Setting for Non-Sequential Tracing |yi3y `f bN$!G9I!, 总结 – 组件… aPq9^S* d]OoJK9&&
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TE( 系统观感 nBd!296 j w)Lofn
j[XA"DZR< ?gb"S, ?=]`X=g6 发射&损耗激光 sD$
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FX"% Z1FO.[FV 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 "3{xa;c GqI^$5? "-y\F}TE 3D STED 轮廓 &+-ZXN Tv<iHHp
%Yg;s'F>#q mf'N4y% 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 aW7{T6., ;^:9huN 受激发射损耗效应 V#1_jxP)Q Hw5\~!FX 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 K6kPNi e_+`%A+-
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O+1e VirtualLab Fusion 技术 y6'Fi(2yw YH^_d3A;
Dn _D6H l!\C"f1o, 文件信息 PGMu6$ |H5){ 2V>K
Z~8Xp ?L#C'Lz2+ 进一步阅读 2](R} • Simulation of Multiple Light Source in VLF TH/!z,(> • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 3O<<XXar /a6\G.C5 市场图片 ~)D2U:"^xm "uCx.Q9ef
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