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摘要 "doiD=b N3lz-vP-
cR!M{U.q OXpN8Dh5 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 vw:GNpg'R6 WC=d@d)M 任务说明 i?b9zn XUVj<U
KX;JX*)J 2[(~_VJ 多重光源 >r\GB#\5 m3o -p zx$1.IM"4 ?%~^PHgZ| 螺旋相位板 /TPtPq<7:# (_@]-
.`_iWfK 6jBi?>[I 探测器插件 1anh@T. 9.xRDk
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Z' 参数运行 }ssja,; 7q;`~tbC
k{vbi-^6rf 2ry@<88 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: <b *sn]l `V<jt5TS Usage of the Parameter Run Document ORF:~5[YS` z7sDaZL?_ 非时序建模 f@hM ^% \X\f~CB
FP=27= q1eMK'1 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 _A!Fp0}` Y-y yg4JH Channel Setting for Non-Sequential Tracing ^vT!24sK w< Xwz`O 总结 – 组件… ^Y+C!I -L]-u6kC[
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6YNL4HE? IaSpF<&Y; 系统观感 ,>b>I#{ NNbdP;=:u
]OdZlZBsJ
&qdhxc4 `vOL3`P 发射&损耗激光 $fg@g7_: 9NU0K2S
F{a;=h#@Q TbNH{w|p 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 X|Y(* $?D7 P$k*!j_W RQo
a 3D STED 轮廓 m Rw0R{ yCN_vrH>
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r~i ;XawEG7" U 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 X)~wB7_0G r#4/~a5i~ 受激发射损耗效应 D 6y,Q
`a MU 2 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 {LF4_9 = io+V4m
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}.C 9K`_P] l2z 文件信息 9|}Pf_5]%[ \_8wU'7
w90YlWS# kc^,V|Nbq6 进一步阅读 0(eaVi-%D • Simulation of Multiple Light Source in VLF esnq/ • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy pCh v; *$vH]>)p 市场图片 {JP q.A 0Z8"f_GK
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