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摘要 ]DcFySyv C _Dn{
h0$iOE K-4PI+qQ\ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 CZ;6@{ o UNYqft4 任务说明 Hka2 mt
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I,tud!p` ^!d3=}:0 多重光源 kmW4:EA% s<Ziegmw|g c)J%`i$ K0~rN.C!0 螺旋相位板 It(_v 4 KiY6)
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21%zPm 探测器插件 e+WNk
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"1Z]@ 参数运行 f|5co>Hk qX%_uOw:%
)7F/O3Tq dV_G1' 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: I9Xuok!0>= vsPu*[% Usage of the Parameter Run Document lxx2H1([ 0J9x9j`&j 非时序建模 V
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iS^QTuk3% Cdn J&N{ 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 +7Gwg @gblW*Zhk Channel Setting for Non-Sequential Tracing x5Bk/e' K-v#.e4 总结 – 组件… q V=!ORuj oJ^P(] dw
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VA%J\T|G2\ dO'(2J8 系统观感 Txu/{M, j2k"cmsKh
!$JT e kiEa<-] J.a]K[ci 发射&损耗激光 :WEDAFq0 5pX6t
_BufO7`. &C}*w2]0S 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 dysS9a, dtDFoETz )0`C@um 3D STED 轮廓 ,1`z"7\W Yy8g(bU
Rq -ZL{LR7 VbYdZCC 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 LVyyO3e 5xiEPh 受激发射损耗效应 zLQx%Yg! *. t^MP 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 "]*tLL:` P \I|,
"+c-pO`Wg Xw1*(ffk VirtualLab Fusion 技术 3]hWfj1m2 Ry&6p>-
" bG2: 8ag!K*\V< 文件信息 6Wn1{v0 +@UV?"d
@ Qe0! (_= pH;%ELZ 进一步阅读 %T[]zJ( • Simulation of Multiple Light Source in VLF ceA9){ • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy SbZ6t$" u*R_\*j@ 市场图片 [[ZJ]^n, XppOU
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