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摘要 B{ NKDkDH r'hr'wZ
F9e$2J)C XN"V{;OP1 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 %E7+W{?*1 NQ<~$+{ 任务说明 qEE3x>&T] Y*``C):K%
v@k62@; (Jfi 3 m 多重光源 1fL@rR
9`^VuC' +asJV1a @2
dp5 螺旋相位板 >TsJ0E?3x OgrUP
0$,Ag;"^? #;H,`r 探测器插件 uw+v]y n?pCMS|
d{0w4_x >qx~m>2|8] 参数运行 p;j$i6YJ Fm-W@
'oTcx Jx ~`hI|i<] 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 5 v~Y> 7&klX Usage of the Parameter Run Document N{/q
p ckt^D/c2 非时序建模 _OcgD< !j4C:L3F
~>D;2 S(a Sct-,K%i 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 _89
_*t( GU'5`Yzd9 Channel Setting for Non-Sequential Tracing U3lr<(r* 1elcP`N1 总结 – 组件… ~<v.WP<: p/lMv\`5
p>K'6lCa [p!C+|rro
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xpz7He 系统观感 *&UVr
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l(=#c/f q9WdJ!-^X 9z'</tJ` 发射&损耗激光
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{yt]7^ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 h,140pW pJa FPO..| ZFW}Vnl 3D STED 轮廓 #4na>G| V]k!]
tx5_e[ ).oqlA! 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 Rdt8jY6F/ Q(]-\L' 受激发射损耗效应 ,C&h~uRi#f Q^MB%L;D 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 :R_{tQ-WG
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6> VirtualLab Fusion 技术 5)$U<^uy @/$mZ]|T
z(\H.P# j~Gu;%tq 文件信息 w,}}mC)\* >D:S)"
&2xYG{Z iU%Gvf^?'5 进一步阅读 m]"YR_ • Simulation of Multiple Light Source in VLF uhc0,V;S • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 3lL:vD5( ]LSa(7>EU 市场图片 E0O{5YF^T TJ;v}HSo
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