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摘要 fbW#6:Y \3z ^/F~
4\8k~# AyZBH&}RZ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 7Rom#Kl: 4dvuw{NZ 任务说明 DfP
vi1 .J|"bs9
D'Sdz\:4 ^S`c-N 多重光源 We#O'm )8Sm}aC P!2[#TL0 X?.LA7 )CK 螺旋相位板 C0Ti9 uH!;4@uI
{mV,bg,}~ axi%5:I 探测器插件 +2]{%= F%QVn.
K29KS)~;W =zW.~(c{ 参数运行 o%A@
OY WAcQRa~C
+hS}msu' Lpdp'9>I 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: N;\by<snN C_Z[ul Usage of the Parameter Run Document 8>K2[cPD 21U,! 非时序建模 6*2z^P9FRj ve /Q6j{
Iih~rWJ O-vvFl#4 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 t1
.6+ 52#@.Qa Channel Setting for Non-Sequential Tracing Hv1d4U"qM v 1O*
Q 总结 – 组件… a4! AvG R3$eq
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8a1G0HRQ R('44v5JQp 系统观感 A{hWFSv Jj'~\j
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`7!Z 发射&损耗激光 E-irB/0 @&2bLJJ+
Y0U<l1(| R28h%KN 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 X(#G6KeZFZ u<\/T&S 6?ylSQ]1 3D STED 轮廓 !T|X/BR u*&wMR>Crf
b07 MTDFH7 qgU$0enSs 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 -`B|$ W e?G] fz 受激发射损耗效应 hM(|d@) dd>stp 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 z/N~HSh!d ueYZM<],
Xi1/wbC '8wA+N6Zr7 VirtualLab Fusion 技术 `hL16S fXBA
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$}7/mS@c X'WbS 文件信息 K9gfS V>] qI"@ PI!s
uQ{ &x6.1 Qg9 N?e{z 进一步阅读 s&!g ) • Simulation of Multiple Light Source in VLF pl V]hu27K • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy b4s.`%U X5527`?e 市场图片 QkwBw^'_5 PSNrY e
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