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摘要 fo@^=-4A- @%R<3!3v
Iv6 q(c d qn5G!fI 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 lrT2*$ w3 G:=hg6' 任务说明 _6ZjF>f >0IZ%Wiz
C8}:z\A_@Z Z .6dL 多重光源 8-#%l~dr dw
bR,K l]R0r{{ &N|$G8\CY 螺旋相位板 1PkCWRpR DZ8|20b
%t9C #&&T1;z"# 探测器插件 0CrsZt X g>@JGzMLP
S\e&xUA;| Dm>"c;2 参数运行 }vd*eexA 'YNaLZ20
=Ph8&l7~sp cj/`m$ 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: |p11Jt[ :gh[BeqQ) Usage of the Parameter Run Document [. 5m}V /d8o*m'bu! 非时序建模 'ZfgCu)St 7RAB"T;?Q
B`5<sW QHEtG2 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 J!6FlcsZm ^:eZpQ [, Channel Setting for Non-Sequential Tracing )+E[M!34 BM%wZ:
s 总结 – 组件… 'rD6MY CLb6XnkcA\
':'g!b`/ 'X`Z1L/
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l] nt@0+ 系统观感 k*.]*]
3^ Yc%
U@lc1# ie}OZM 'Wonz<{' 发射&损耗激光 4`IM[DIG~ _]Hna <Ly
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`zwz 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 Ac7^JXh% gg;r;3u h~MV=7
lE 3D STED 轮廓 S:\i
M: =8kmFXo
y}Ky<%A!P !Brtao"m 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 N+-Tp&:wY XC4Z ,,ah" 受激发射损耗效应 !*IMWm> 8s%/5v" 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 wucdXj{% YeX*IZX8
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PJnC VirtualLab Fusion 技术 97}]@xN= B{-7
0P^h6Vat o9?@jjqH 文件信息 T X`X5j =bC
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uGKjZi Rd?}<L 进一步阅读 N!A20Bv • Simulation of Multiple Light Source in VLF .J#'k+> • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy R+sT
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