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摘要 -s91/|n *li5/=UC5*
`Y '-2Fv 8l?@ o 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ~dsx|G?p `RqV\ 6G+ 任务说明 fB4zqMSfE '
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BSEP*#s z3 fU|*_c 多重光源 z5f3T D6, G1,u{d-_ THwq~c' _z"\3hZ 螺旋相位板 kRiZ6mn y<yU5
:|ytw=3> ;Qlb].td 探测器插件 /'>ck2drjk HN&]`cr;
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;=oM 参数运行 g*%o%Lv @Y6~;(p
AeW_W0j evyA#~o 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: Xpmi(~n z8PV&o Usage of the Parameter Run Document H)+wkR!~ MWn[]'TpH 非时序建模 C9`x"$ 1~*JenV-
c/G^}d% myZ8LQ& 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 t(- 5l UO>S2u Channel Setting for Non-Sequential Tracing GYri\ <[ ]=5D98B 总结 – 组件… _M[T8 "e( *3y:Wv T>
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>!P !F( O#b%&s"o 系统观感 .iEzEmu !*B1Eo--cN
?OWJ UmQ x):h|/B H|B4.z 发射&损耗激光 {(`xA,El =q*j". <
&28%~&L nnnq6Z} 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 -(![xZ1{K Q-f?7*> _i1x\Z~
N 3D STED 轮廓 iED
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9GVv[/NAb *8xMe 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 ns !Mqcm h-RL`X 受激发射损耗效应 H5p&dNO q{oppali 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 #vvQ1ub s4{ >7`N2
2z027P-Q p EbyQ[ VirtualLab Fusion 技术 ."JtR
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G>c:+`KS +`~6Weay 文件信息 #R3|nL AtW<e;!0te
SpX6PwM ygfUy 进一步阅读 $/;;}|hqi • Simulation of Multiple Light Source in VLF "~/O>.p • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy jr=erVHK @t?uhT*Z= 市场图片 q`^T7 k'JfXrW<!
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