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摘要 2/&=:,"t,B xE:jcA
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8 msBoInhI 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 {N4 'g_ g,Ob/g8uc 任务说明 NnLK!Q 8RMM97@1Q
XV]N}~h o` q`*.F#/4c 多重光源 @]l|-xGCWn o[ZjXLJzV W%L'nR~w$ 6!\V| 螺旋相位板 J!uG/Us s2O()u-
QLY;@-jF$ zZCl]cql 探测器插件 tbS hSbj {-4+=7Sg1
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_K1% 参数运行 MQoA\ g04^M(
#X-C~*|>j I3Vu/&8f| 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: _
$F=A oco,sxT Usage of the Parameter Run Document ^~~Rto)Y //7YtK6 非时序建模 UIAazDyC X:i?gRy"
HMd?` )\1>)BJq 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 2IB{FO/ ,Cr%2Wg- Channel Setting for Non-Sequential Tracing ; J W]b] ]o] VS 总结 – 组件… 8_%GH}{ JvAXLT
spa:5]B Lf9hOMHx
rI$NNk'A y0xBNhev 系统观感 Bp^LLH wkp2A18n
U"GxXrl u"0{)
, "@G[:(BoB< 发射&损耗激光 Ch"wp/[ u>
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_[6sr7H! kkl'D!z2g 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 rj=as>6B fu!T4{2 };'@'
3D STED 轮廓 }b1G21Dc! HYdM1s6vo
V(`]hH0;T g (w/ 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 J1w[gf]J XUP{]w`.Z 受激发射损耗效应 }d%CZnY&7 m"!SyN}&9? 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 $@Vn+|
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mu\1hKq;B Z1fY' f 文件信息 %Y~"Stmx X.<3/
~xqiasE#K v]SxZLa 进一步阅读 /si<Fp)z • Simulation of Multiple Light Source in VLF B?BOAH • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy .=eEuH 3jZGO9ttnS 市场图片 jRg/N_2'2 6k hBT'n
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