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摘要 6E^.7%3 sPR1?:0:
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受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 1#ft#-g} eY| 任务说明 #':fkIYe' [_}J F}6
Ac<Phy-J , T8>}U( 多重光源 egq67S GhIKvX_N Y9&,t\ q 9T*v9d 螺旋相位板 HlH64w2^R %y@Hh=
(EI;"N (x [x,>?~6ek 探测器插件 Np"exFqN k ,&R/4:I
SN1}xR$ 1q,{0s_kp 参数运行 [D<1CF /\4'ddGU
z}MP)|aH: ZOZ+ Y\uU 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: DF*:_B) '2[albxSc Usage of the Parameter Run Document A}3=561F?5 `1bv@yzq 非时序建模 Ndi9FD3im !Ikt '5/
oz}+T(@O !X;1 } 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 :{q<{^c $3s@}vLd Channel Setting for Non-Sequential Tracing d'G0m9u2 \uaJ@{Vug 总结 – 组件… CnG+Mc^ Y07ZB'K
TX&Jt% !qM=a3
kNobl IVAmV!.z 系统观感 Q+W1lv8R jAm3HI
/#m=*&!CB Fd[zDz 9Ru8~R/\ 发射&损耗激光 N<IT w/@^ Yd#/1!A7u
fR*q?, WZ*ws[dVI 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 Vv.|br`;} ,v';>.] tX>
G,hw 3D STED 轮廓 IHcD*zQ &3TEfvz
hKT Y}#J4i0b* 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 mg$]QnbAnH Cc%LztP> 受激发射损耗效应 VrxQc qPr` <7j87 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 D0%Ug> b-{=s+:
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L3QJ0 :n.f_v}6 VirtualLab Fusion 技术 8>WC5%f* lna}@]oR
a*ushB A8oo@z68n> 文件信息 + EGD.S{ k=4N.*#`y
Q2F+?w;, uFPF!Ern 进一步阅读 q(2K6 • Simulation of Multiple Light Source in VLF /qy-qUh3h • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy @EnuJe .7.b:Dn0 市场图片 .MJofE;Jn -wSg2'b4E
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