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摘要 *q1sM#;5 SsL>K*t5
nzi)4"3O }WNgKw 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 7&dPrnQX= fJ-8$w\uL 任务说明 @:u2{>Yl P-N+
bu\D*- #0M,g 多重光源 B&lF!
] 4y9n,~Qgw N;av W-"FRTI4 螺旋相位板 y-7$HWn ")qO#b4
{uO2m*JrI ZnB|vfL? 探测器插件
7w|4BRL 1'J|yq
k@C]~1 #kEa&Se 参数运行 *j|BSd
P 6EX8,4c\
^p7Er! SJI+$L\' 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: Xn8r3Nb$A b"#|0d0 Usage of the Parameter Run Document Qte'f+ |FD-q.AV 非时序建模 uw&'=G6v r \]iw v
3Q(#2tL= R<-( 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 9k!#5_ M >/F,Z%!&q Channel Setting for Non-Sequential Tracing bQ2 '*T {-Y% wM8<i 总结 – 组件… ijWn,bj jJCd2O]
DJhCe==$v ;GxKPy
I_@XHhyVZ KrT+Svm 系统观感 k@ZmI^ wrW768WR
GKKf#r74 0/JusQ +3n07d 发射&损耗激光 ZMXIKN9BF# ]`Y;4XR
6muZE1sn vL7JzSU_ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 <$'OSN`! 5rpTR q\g|K3V) 3D STED 轮廓 f=Rx8I Ey!+rq}
m [FH> bO%bMZWB!y 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 ca1A9fvo !bG%@{W T 受激发射损耗效应 =F5(k(Ds BK8)'9/ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 V'4sOn t)O$W
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文件信息
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\ueo^p]_? T8,?\7)S9 进一步阅读 Kuz
/ • Simulation of Multiple Light Source in VLF J]A!>|Ic • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy kw>W5tNpf: _Jc[`2Uv_c 市场图片 lV-b [Az<E3H"
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