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摘要 wPlM=
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fF@w:;u k^J8 p#`6 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 IDohv[# J]F&4O 任务说明 !GcBNQ1p+7 VmS_(bM
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CqU 多重光源 {w@qFE'b 3:)z+#Uk6
gjS|3ED :gVUk\) 螺旋相位板 HK;NR.D FY1iY/\Cn
\TQZZ_Z Q+:y 探测器插件 F-&tSU, 1[FN: hm
r/Y J, 2! /0s1;? 参数运行 ~iL^KeAp
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"#Rh\DQ OF-k7g7 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: Jj4HJ9 u` pTFy Usage of the Parameter Run Document u47<J?!Q &> sbsx\y 非时序建模 -+R,="nRQ BoD{fg
w,UE0i9I h4Crq Yxa_ 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 ;Afz`Se1@ honh'j Channel Setting for Non-Sequential Tracing ,06Sm]4L, VYk:c`E 总结 – 组件… }vndt*F
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R9XU 7_3B .u-a+ac< 系统观感 zl0{lV [+ud7l
<,i4Ua K~W(ZmB `TrWtSwv 发射&损耗激光 #;[G>-tC 1IXtu
JZ5k3#@e ;mQj2Bwr 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 xS*UY.> |]\zlH"w 4~fYG| a 3D STED 轮廓 U4D7@KY +m "Q?+T:D8|
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O1c%XwMn^ 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 Ailq,c gZ @+62 受激发射损耗效应 D|uvgu2 *+M#D^qo 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 c(Q@5@1y: ZW4f "
U^m#!hp m2]N%Y VirtualLab Fusion 技术 09kR2(nsW/ %>Kba M1b
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c • Simulation of Multiple Light Source in VLF A3]A5s6 • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy ASqYA1p. )+.=z 市场图片 z.Cj%N lM-9 J?j
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