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摘要 o?,c#g mETGYkPUa
ol3].0Vc] g9~QNA 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 4De2miq ^7Z#g0{^w 任务说明 JnE\z*NB =|+%^)E
P>}OwW _^ZBSx09) 多重光源 \Gl>$5np ;$.^ jjT)3
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Cl>|*h+m 螺旋相位板 :DG7Z ~o8
S7v# `# W?H-Ng3E 探测器插件 4`Ib wg6"B 0_&5S`tj
@@W-]SR rtxG-a56Q 参数运行 oUd R,;h9 vJ?j#Ch
% <1&\5f<5 Vi=u}(* 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: w#
R0QF 'z9}I
# Usage of the Parameter Run Document A.+Qa i'YM9*yN 非时序建模 U[O7}Nsb" ~ugyUpY"
itmFZZh ET0^_yk 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 jn]:*i;i QTIC5cl, Channel Setting for Non-Sequential Tracing {
Ba_.]x +.J/7gD 总结 – 组件… O77^.B 1|WrJ-Uf
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06]%$-j fq?MnWc 系统观感 &BxZ}JH=k ?_`X8Ok
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#_kV o3 发射&损耗激光 3~EPX`#[W !j%#7
7r{159&= E$C0\O!7 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 >@0U B@ kYZj^tR GK&R,q5} 3D STED 轮廓 ~m3Tq.sYrY T9?8@p\}(
H;N6X y*~ SnVb D< 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 4Z0Y8y8) u=
Vt3%q 受激发射损耗效应 O ]!/fZ;( si1Szmx, 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 n{"e8vQx rm%MQmF
Y'O3RA5E 8SN4E VirtualLab Fusion 技术 >Yx,%a@~R TFO4jjiC"
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xM_+vN*( ,.i)(Or 进一步阅读 c,Yd#nokC • Simulation of Multiple Light Source in VLF ^=ar Kp,?5 • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy MI,kKi $bF3v=u` 市场图片 ,HwOMoP7 ;3&HZq6Z (
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