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摘要 UwxrYouv~@ 6hm6h7$F1
C!" .[3 &U/~*{ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 IyA8+N
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~Vq 任务说明 zuZlP ETVT.R8
xR;-qSl7Ms Q,`Y 多重光源 wen6" 9qQFIw~S
qz:_T ^5~[G%G4 螺旋相位板 VI`x
fmVOQ T{lJ[M
]g;K_>@ MPd#C*c 探测器插件 uQ.VW/> ;nJCd1H
@]h#T4z' w,.Hdd6 参数运行 ~qT+sc!t uL4@e
m"vV=6m|\ SwuadN 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: KXFa<^\o k\}qCDs Usage of the Parameter Run Document 3^us;aOr zj;y`ENj 非时序建模 &[KFCn Q\:'gx8`
m%E7V{t i9)y| 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 `czXjZE ()>\D Channel Setting for Non-Sequential Tracing |R*fw(=W Ck.GN<#-^P 总结 – 组件… Ec6{?\ 1|cmmUM-'v
TniZ!ud ^j=_=Km]
{hRAR8 hoeTJ/;dm 系统观感 D\V}Eo';6 1
)j%]zd2
=8dCk\/ g}qK$>EPS D0k7)\puQ 发射&损耗激光 M3F8@|2 ]@?3,N
>k\*NW km<~Hw>Z 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。
3nK'yC G%kXr$?W KQ9:lJKr 3D STED 轮廓 up2%QbN( iKS9Xss8
d)o<R;F %r!# 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 a*IJ)'S ?n@PZL= ] 受激发射损耗效应 [bOy,^@4 v*BA\& 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 nC&rQQFF MB |(,{S
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<0LB]zDWe6 1[Mr2 @ 进一步阅读 R\Q%_~1 • Simulation of Multiple Light Source in VLF !eTS PM • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy G#*!)#M < ntkinbbD 市场图片 ``E;!r="v ^LcI6h
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