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摘要 oG7q_4+& hoT/KWD,
x+]!m/ ork=`}; 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 '+
xu#R $7QoMV 8V 任务说明 =?h~.lo QZX~T|Ckv
cpt<WK} \uME+NF 多重光源 k'$!(*]\b }n7th ?<Y+peu kD) $2I? 螺旋相位板 #q3l!3\mW 9S[XTU
.bVmqR` ]#/4Y_d 探测器插件 JlKM+UE: tA$)cg+.
&TG5rUUg LkLN7| 参数运行 BZb]SoAL [TF8'jI0
rdnRBFt 8F)G7
H, 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: \<vNVz7.D 'cNKjL; Usage of the Parameter Run Document ]O{u tm _MWM;f`b 非时序建模 N~pIC2Woo &x-TW,#Ks
24Z]%+b*E !:LJzROh 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 >)_ojDO d bS
+ Channel Setting for Non-Sequential Tracing F8e<}v&7R -ng=l; 总结 – 组件… XT,#g-oi fqs]<qi
kl1Y] ?z} ;Qi }{;+
TP1S[`nR a;$P:C{gj? 系统观感 xjdw'v+qZo O3n_N6| q
w:o-klKXY # x>g a ;r=b|B9c 发射&损耗激光 9umGIQHnil 5j"1z1_&
Lc<eRVNd, +Ra3bj l 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 JO@Bf nzX@:7g Uz%Z&K 3D STED 轮廓 !C:r b Q\{x)|{$
:9l51oE7 "`A :(<x 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 WW@"Z}?k Oajv^H,Em 受激发射损耗效应 LT+3q%W.UC G>T')A 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 tPHS98y b'x$2K;E
$e\N+~KNCy Bk|K%K VirtualLab Fusion 技术 .g\6g~n cJn HW
++[5q+b TUp%FJXA| 文件信息 f?Bj _z N~=A
,:v&4x&= 3+OsjZ 进一步阅读 Z&!!]"I • Simulation of Multiple Light Source in VLF =G-N`
39 • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy FE5Q?*Ea Zu<]bv 市场图片 w,.qCp T$_ O>DNC-m)i{
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