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摘要 <-UOISyf lEPAP|~uw
N0n^L|(R DhI>p0* T 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 =He.fEy <Wl(9$ 任务说明 'ul\Q`N3 ;52'}%5
*i$ePVU H L<s@kEZ 多重光源 _-cK{ ,D80/2U^ c\cZ]RZ v4*rPGv 螺旋相位板 )_jSG5k 1
[z'G)v
`GQ{*_- OQlG+| 探测器插件 9x~-*8aw j?(!^ _!m
|bZM/U= U; xF#e 参数运行 s[3fqdLP& ySdN;d:q
j!#OG ~hN~>0O 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: Sm3u /w! ;~zNqdlH Usage of the Parameter Run Document xc'vS>& ;Fl<v@9 非时序建模 X=p"5hhfn &hZwZgV+3
)JgC$ < yOHXY& 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 &m{'nRU}c z
YDK $ Channel Setting for Non-Sequential Tracing rjojG59U> X} JOX9pK 总结 – 组件… Yx?aC!5M 6p<`h^
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9zKBO* p` |w)5;uQ&\ 系统观感 k&s; {|! -6E K#!+
[ x> $Tl<V/ d!{7r7ob\ 发射&损耗激光 CJw$j`k Y_H/3?b%
`<vxG4=62\ Q</h-skLZ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 sB7" 0M {7#03 k ubGs/Vzye 3D STED 轮廓 D\rmaF+ `1'5j "v
l)@:T|)c fGu!M9qN4 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 IcoowZZ Gt^d;7x] 受激发射损耗效应 79ZxqvB\ ju{%'D!d9 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 pC^[ [5A jXcNAl
cC6z,0`3 #EwK"S~ VirtualLab Fusion 技术 __)qw# 6Y?`=kAp
c f*zejbw dB)[O9K) 文件信息 sc xLB; ^5)_wUf
76MsrOv55 {8m1dEC^@Q 进一步阅读 ks:{TA27 • Simulation of Multiple Light Source in VLF YX;nMyD?~ • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy j.&
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