-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2026-02-03
- 在线时间1925小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 h ycdk1SN .I1k+
OZCbMeB{+J y5!fbmf 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 xlHC?d0} t Urwg
任务说明 [W*xPXr* jWE?$r"
Ojwhcb^ +jv&V%IL 多重光源 QKAt%"1& h,Nq:"} ?E2$ MmL)CT 螺旋相位板 x[m&ILr }z|@X KA#
-0G/a&ss pI]tv@>:f 探测器插件 3{/Y&/\"'^ c:OFBVZ
(;(P3h g UAx8=h 参数运行 ->q^$#e 'G|M_ e
?V9Da;cj PQJI~u9te} 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: .kT}E5 ))xyaYIZkk Usage of the Parameter Run Document -&UP[Mq !$1'q~sO 非时序建模 wiE'6CM +/|;<K5_LI
4IUdlb NKX62 ZC 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 M&q3xo"w Z H1UAf Channel Setting for Non-Sequential Tracing $bdtiD k __MYb 总结 – 组件… }s>.Fh A&8{0
Zp'q;h_ J}M_Ka
uNoP8U%* ]@G$L,3 系统观感 <Z:Fnp %X^K5Io
!8ch&cr)o+ ]?"1FSu-8r 1v2pPUH\ 发射&损耗激光 S9@2-Oc : l&g5
|u5Xi5q.f Hp}d m93T 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 3Y6W)$Q -Rcl(Q}LZ X`'
@G 3D STED 轮廓 H-ewO8@ DM[gjfMXu
Of?3|I3 l 27CVAX ghV 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 079mn/8; &E +2 受激发射损耗效应 W%,h{ E!SxO~ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 3H_%2V6#V1 miv)R
'|~L9t )&$p?kF VirtualLab Fusion 技术 vf-cx\y7 ;G\RGU~
k}tTl 2 #qPWJ 文件信息 UX!)\5- PEIf)**0N
s^6"qhTa
B(/)mB 进一步阅读 v[t*CpGd • Simulation of Multiple Light Source in VLF XkE'k;AEx • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy f;Uf=.#F c*:H6(u 市场图片 q(iM=IeiN \
W.uV[\
![}q9aeT
|