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摘要 OBw`!G*w /@:up+$
PZ!dn%4jy >SxZ9T|% 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 oLqbR? ueE?"Hk 任务说明 BheEI;} 9"HmHy&:E
#[U9(44, T$8@2[ 多重光源 }$0xt' q& s*)41\V0 =(|xU?OL CmJ?_> 螺旋相位板 ?lc[hH N,/BudFo
I>kiah* rZ!Yi*? f 探测器插件 s?@)a,C%k gaw4NZd)0
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*9Ip FV^4 参数运行 :zj9%4A 4pmTicA~
:M22P`: J+)'-OFt0 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: >
$w^%I ,&.W6sW Usage of the Parameter Run Document ?~"`^|d
eeW' [ 非时序建模 JkSdLj JcTp(fnW.~
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SwdC, 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 E /fw?7eQ _ yfdj[Ot` Channel Setting for Non-Sequential Tracing Aautih@LX *2JH_Cj` 总结 – 组件… ds*m6#1b ,c4c@|Bh?
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N#(jK1`y .MDYGWKt 系统观感 yWj9EHQU[ D4< -8
gw_|C|!P g3|BE2? t*{,Gk 发射&损耗激光 <,jAk4 IFiTTIlT0
#|qm!aGs NH'1rt(w 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 I"Q#IvNw <=q*N;=T, cyW;,uT)D 3D STED 轮廓 M'yO+bu 1#grB(p?
wA?@v|,dZ {mNdL J 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 o_iEkn 12 idM* 受激发射损耗效应 h^}_YaT\ }<vvxi 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 mO#I nTO N<9w{zIK(
A#<vG1 sz'p3 VirtualLab Fusion 技术 {tPnj_|n< _ 1sP.0 t
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