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摘要 2#M:JgWV 8B+^vF
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q N%E2BJ? 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 :!15>ML;- s\FNKWQ 任务说明 sl O9H6< i1@g Hk
0M2+?aKif ^F9zS`Yz2 多重光源 v+o3r]Y6 BW=6gZ_ W%Q>< 'c z( [ $,e\ 螺旋相位板 TsW6 w sc>)X{eb
H4A+Dg, Cs=i9.-A 探测器插件 48rYs} Jn&>Z? @
R:x04!} a3IB, dr5P 参数运行 #N}}8RL &scD)
ZaindX{.1 m|FONQ,@D 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: ~x|Sv4M 5j5t?G;d, Usage of the Parameter Run Document ` &7?+s Z i&X ,K~ 非时序建模 HV(*6b@ Mn;CG'FA
>&Lu0oHH F$p,xFH# 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 ~36XJ A1T;9`E Channel Setting for Non-Sequential Tracing vG:,oB} u)>*U'bM 总结 – 组件… B%;+8] tvCTC ey
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XaSl6CH s7LX 系统观感 1&nrZG9 `&JA7UD>
2mG?ve%m) hV>Ey^Ty J3^Ir [ 发射&损耗激光 /tP {a%cU[q
!\v3bOi& C.p*mO&N 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 :7*\|2zA H[U*'
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Q( 3D STED 轮廓
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5@5="lNjS l>q.BG 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 kp"cHJNx FiL
JF! 受激发射损耗效应 /m:}rD VQ`O;n6/` 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 oaE3Aa !{\c`Z<#
"5bk82." "WL VirtualLab Fusion 技术 ktb.fhO '(*D3ysU
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@,.H)\a4 #UIg<: 进一步阅读 B$j,: ^ • Simulation of Multiple Light Source in VLF iqYc&}k, • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy e{/\znBS% 7ac3N 市场图片 !s:|Ddv S/aPYrk>6
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