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摘要 Z]tz<YSkG
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%9j]N$.V 9g7T~|P 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 "P6MLf1 ?g'l/xuRe 任务说明 p s2C8;zT n3(HA
PF.HYtZqK +mJAIjH 多重光源 KnuqU2<
{ mU!c;O <%5ny!] c0@v`-9 螺旋相位板 {S?.bT%& %lBFj/B
?1YK-T@ 9I,Trk@& 探测器插件 8g3 6-8 j0J6ySlY
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#F' 参数运行 ~%]+5^Ka] o\N),;LM
[Mx+t3M 7*sB"_U2 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: ^Kn}{m/3Y o.,hCg)X Usage of the Parameter Run Document JH 8^ZP:d' ~sOAm 非时序建模 >B==*,| jN'zNOV~
2?&h{PA+ Na4\)({ 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 d4lEd>Ni bS*9eX=K Channel Setting for Non-Sequential Tracing v''$qMQ) !( /dbHB 总结 – 组件… +BESO G=DRz F
KyjN' F$ '2eggX%
I'JFt>] 4v;/"4)' 系统观感 WHL@]^E@m *t63c.S
jVr:O` OF}vY0oiw? \]zHM.E1 发射&损耗激光 $. Ih- V
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'Je;3"@ U2;_{n*g% 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 {D$+~lO Pwf":U) EsdA%` 3D STED 轮廓 ~OXPn9qPp 5-*/wKjLz
+d<o2n4! +ps(9O/B> 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 -GH>12YP *&XOzaVU 受激发射损耗效应 m)V%l0 t~3!| @3i 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 +Y-Gp4" o!:
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zz9 | $/K<hT_ VirtualLab Fusion 技术 U`z=!KI+g 51xiX90D
U&GSMjqg eot%Th?[ 文件信息 =XVw{\#9 b Dc2H<=];
0tK(:9S !Wgi[VB 进一步阅读 @kd`9Yw • Simulation of Multiple Light Source in VLF ,?S1e# • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 3VaL%+T$, /V0[Urc@ 市场图片 8u6*;*o MaN6bM
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