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摘要 zWjGGTP~3&  WQ"ZQ
 
  U35}0NT	_ deu+  i  受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 CqrmdWN    |h6@hB\  任务说明                                                                            dHOz;4_   |ZRl.C/e
 
  `L9o!OsQ    Kh%	x  多重光源                                                                            \vm'D'9      &BE[=& |  1/1P;8F@G ih~c(&n0  螺旋相位板                                                                            %FyB\IQ   ;\#u19
 
  x!"!oJG^k    \uanQ|Nu  探测器插件                                                                            );Gt!]p`;   
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  fDbs3"H Q    C<n.C*o  参数运行  eJy@N eMh:T@SN
 
  YnI	    K5w22L^=+  为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: ^i:%;oeG    @H{$,\\  Usage of the Parameter Run Document Nw|Lrn*h!                                                                                   EB>	RY+\  非时序建模 i
[j`'.fj &"^A
 
  u\t ;    b0KorUr  将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 EkTen:{G    	T>?sPq  Channel Setting for Non-Sequential Tracing /6S/a*`<X                                                                                   ,;D74h2F  总结 – 组件…            ~i
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  {s`1+6_&Vz Uf\*u$78  系统观感 VVe>}
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|u$AzI  发射&损耗激光  -rH3rKtf~ {yG)Ii
 
  &.4lhfI+(Q    mIr{Wocx  光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 <o]tW4\(R    q_ 5xsTlTR                                                                                   ZE=~ re  3D STED 轮廓 @Qx;J<{+g Jk1Up2#B
 
  XHe= PD/~@OsxU  注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 Gwvs~jN    U}qW9X;o  受激发射损耗效应                                                                           H-rf?R2    [tBIABr  为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 MA1,;pv6
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  #Xn#e :))AZ7_  VirtualLab Fusion 技术                                                                           jf$t   zD?$O7
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  JdV!m`XpXy                                                                                   5T;_k'qe  文件信息  }&	1_gn15 %3C,jg
 
  p 	3_Q Az)P&*2:'`  进一步阅读 0`S!+d
 • Simulation of Multiple Light Source in VLF |H@M-  • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy aFC3yMKXh    d[o =  市场图片 aG"UV\
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