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摘要 ~]<VEji gOE?
]y$/~(OW q%]5/.J 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 #KHj.Vg V;)+v#4{ 任务说明 f/0k,~,* *qm>py`O
f= }!c*l" JL u$UR4 多重光源 ~qTChCXP XI`s M~' zNn QMX 螺旋相位板 Klu0m~X@ !kh: zTP
g@?R" :zO;E+s 探测器插件 "dYT>w 3{ea~G)[9
ALInJ{X %Br1b6 V 参数运行 KxFA@3 Ia{t/IX\[
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8Ro5), 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: 'cK{FiIT $t5>1G1j7 Usage of the Parameter Run Document K,P`V
&m? &a\G,Ma 非时序建模 \t&8J+% KO[Ty'
o##!S6:A B~O<?@]d 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 8`I,KkWg
3YUF\L]yyw Channel Setting for Non-Sequential Tracing b`;&o^7gMO Dv^M/z2&[ 总结 – 组件… e%9zY{ABR% /7.//klN
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nVP|{M 9sv#TT5V 系统观感 .i#'IS0c UZ:z|a3
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I#C usi3z9P>n 发射&损耗激光 LW!4KA] yio8BcXH54
PHH,vO[eO yi -0CHo 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 S]&aDg1y} ZF<$6"4N A9GSeW< 3D STED 轮廓 C_h$$G{S( ;j<#VS-]
3A! |M5 q$<VLrx 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 "837b/>/ YYe=E,q 受激发射损耗效应 R|*Eg,1g - q1rD>n&d 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 7eFFKl '_91(~P
+7y#c20 pqohLA VirtualLab Fusion 技术 O6\c1ha ' Yy+^iCus
9!dG Xq bq}`jP~# 文件信息 ' XOWSx;Y "_+8z_
*3fhVl=8^* {!1RlW 进一步阅读 >YcaFnY • Simulation of Multiple Light Source in VLF ahN8IV=+Gm • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy Y7')~C`up^ 4S* X=1 市场图片 B~YOU3 n3\~H9
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