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摘要 U
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o>l/*i0I 1sIPhOIys 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 _'}Mg7,V NI^jQS
M] 任务说明 FoX,({*Ko~ 6JB*brO
1$S`>M%a )JXlPU 多重光源 ])9|j Qn!KL0w lc(}[Z/|V WNK)IC~c 螺旋相位板 S\S31pYT =M ."^X
4(%LG)a4S -}CMNh 探测器插件 ([ODmZHv s= bP@[Gj
'E)g )@^ >9+h2B
参数运行
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1EHL8@.M K}(@Ek 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: *%n(t+'q s?7"iE Usage of the Parameter Run Document 1wLEkp!~ s(8e)0Tl 非时序建模 r
E&}B5PN= j58'P 5N
yfZYGhPN( y4N2gBTKu 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 ZkmYpi[ ') K'Ea Channel Setting for Non-Sequential Tracing y1bo28 q+U&lw|"w 总结 – 组件… :zQNnq:| X!|K 4Z!k
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$6~t|[7:%Y 9P&{Xhs7 系统观感 5BS !6o;P' B4eV $~<
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&'rC X@\ 9}*9 发射&损耗激光 u+m9DNPF @;7Ht Z`
`4-m$ab o]aMhSol 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 ]VoJ7LoCZ' Xu7lV VK%
j45D ` 3D STED 轮廓 er.;qV'Wz6 ,0aRHy_^
qoSZ+ khS$ I_is3y0 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 "eIE5h v,jB(B^|Z 受激发射损耗效应 g4Nl"s*~ F./P,hhN9 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 3/Dis)
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oA+'9/UY df{6!}/( VirtualLab Fusion 技术 -Yg?@yt 0QY9vuhL<
^+}~"nvD 4U*CfdZZ 文件信息 U
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Uy<n7*H [6CWgQ%Ue 进一步阅读 0,wmEV!) • Simulation of Multiple Light Source in VLF 11B8 LX • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy `V{'GF&[ }1|FES 市场图片 i2!0bY ,|?rt`8)Q
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