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摘要 j0L9Q|s w:I^iI.
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a !b} 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 #.?DsK_:@ :!;BOCTYI 任务说明 Fl>v9%A k[R/RhHQ,
oJVpNE[3] "Nj(0& 多重光源 W%hdS<b J)Dw` =O0n Hq8<g$ fz31di9$ 螺旋相位板 ptQr8[FA 8K*X]Z h
UTc$zc7 &NZN_% 探测器插件 Wxkk^J9F3 ;'!U/N;-
?^mgK9^v@ `0uKJFg 参数运行 S,fMGKcq g2^7PtJg
J4 .C"v0a }OJ*o 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: St-:+=V_ E)3B)(@&P Usage of the Parameter Run Document E D*=8s2 8)Z WR3)+W 非时序建模 ,RKBGOz?f t }7hD
^LaI{UDw%h 'Sppm;? 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 5s8S;Pb]< |