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摘要 &<5+!cV= 9 [jTs3l:
~]'pY iWLa> z|, 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ,RxYd6 W`z 0" 任务说明 '9?;"=6( zf [`~g
BVw Wj-, dQb.BOI)h 多重光源 wGsRS[ DJ@|QQ ;heHefbvvd gRJfX%*F 螺旋相位板 p?X02
>yA ;WU<CKYG*
c+dg_*^ b;GD/UI 探测器插件 Pw0Ci <3okiV=ox
=gh`JN6 ]@^coj[ 参数运行 m-/j1GZ* gEQNs\Jn
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_-~`03 `! <?Wti_ /M 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: p4K.NdUH 5S{7En~zUE Usage of the Parameter Run Document s;flzp8 kcie}Be 非时序建模 ,m=4@ofX C1EtoOv K
HO)/dZNU Rli:x 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 'b*%ixa ;Lm=dd@S: Channel Setting for Non-Sequential Tracing B[4pX
+f YW\0k5[ 总结 – 组件… 41a.#o s@hRqGd:
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!HeSOzN l1U=f] 系统观感 SUKxkc( @+F4YJmB?l
klgy;jSEr &N~ZI*^ sVk$x:k1M 发射&损耗激光 ,j:|w+l BBG3OAyg_
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OL9b 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 rNjn~c ?{w3|Ef& 4'4\,o 3D STED 轮廓 3kcTE&1^ !zj0/Q G\
iRg7*MQu
z@|GC_L 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 ~_s?k3cd Uj+j}C 受激发射损耗效应 ay "'#[ T,xPSN2A* 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 b"!Q2S~ *BuUHjTv
\Y6WSj?E c|F[.;cR VirtualLab Fusion 技术 ae:zWk'! .<tquswg
wC `+ I$E.s*B9 文件信息 b@3_L4~ pfu1O6R
1]IQg;q ~4P%%b0,o 进一步阅读 9j W2 • Simulation of Multiple Light Source in VLF FnJ?C&xK • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy V $z}
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