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摘要 qs5>`skX #S}orWj
wVBKVb9N >t+U`6xK 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 ?[ xgt) <^5!]8*O 任务说明 bdg6B7%Q p}1i[//S
l4bytI{63 cb}"giXQTB 多重光源 2c `m= Hn|W3U 8dGsV5" * ;qshd'?* 螺旋相位板 hbw(o
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S,#1^S pRd.KY -< 探测器插件 ;J%:DD 3:)z+#Uk6
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,"v&r( 参数运行 D|-]<r1"
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;Shu mUYRioNj 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: Br1R++] NkZG Usage of the Parameter Run Document 2~4:rEPJ: V;M_Y$`Lh 非时序建模 3$|/7(M&DA e;]tO-Nu
kK6OZhLH ^HKXm#vAB 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 FuhmLm'p %yR XOt2( Channel Setting for Non-Sequential Tracing #}`sfaT dWAt#xII 总结 – 组件… c;l!i- Q:}]-lJg
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YQBLbtn6( Obs#2>h 系统观感 ;Qi:j^+P) {}O~tf_
C:QB=?%; amBg<P`'_ ':*H#}Br-# 发射&损耗激光 R\j~X@vI ,f
}$FZ
77>oQ~q ]aX@(3G1s 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 VkQ@c;C c6h?b[] {bj!]j 3D STED 轮廓 55S s%$k@ 9YzV48su#
eqx }]# Et=Pr+Q{c 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 TnrBHaxbo4 2]!@)fio` 受激发射损耗效应 ?cU,%<r at uqo3 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 6o't3Peh rH@Rh}#yp
CPz<iU >eJ<-3L; VirtualLab Fusion 技术 $dC`keQM>9 {j2V k)\[i
;ALWL~Xm ug3\K83aj/ 文件信息 @G5T8qwN q*I*B1p[m
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21U J1w;m/oV 进一步阅读 wgl <JO • Simulation of Multiple Light Source in VLF d$!Q6ux; • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy qTsy'y;Z IJ^~,+
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