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摘要 Ni(D[?mZ wpb6F '
'N,x=1R5 Rl=NVo 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 H]mY 6D51" $lU~3I) 任务说明 WvAl!^{` F'C]OMBE
66[yL(*+ hkRv0q.' 多重光源 )
ok_"wB sFx$ b!PN6<SI X`.4byqdK 螺旋相位板 >Djv8 0 MP w@O0QS
4<ER
dP7"- *[.+|v;A 探测器插件 r&o%n5B s%H5Qa+Uh
t1n'Ecm( YxGIv8O] 参数运行 ^X)U^Qd 7V 2%
&.K8cphj 0 -=onX 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅:
vF]?i K%2,z3ps Usage of the Parameter Run Document dn:g_!]p [LjYLm%< 非时序建模 F2z^7n.S @wl80v
G\*`EM4 U11rj,7 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 ~
W52Mbf i._d^lR\t Channel Setting for Non-Sequential Tracing H1s{JJAM>i Tk|0
scjE^ 总结 – 组件… [0m'a\YE9 '?_I-="Mr
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;Zw! ?rk3oa- 系统观感 9} eIidw K :M1+[FT
>J.a,! 9oKRu6]D- K4,VSy1byI 发射&损耗激光 qf4|!UR{ iMk`t:!;#"
[9[tn- |os2@G$ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 yw#P<8{/[ WuSRA<{P ;9,Ll%Lk< 3D STED 轮廓 <2}"Y(zwKl qW;nWfkYC
@U}fvdft 0EPF;
Xx 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 _L%/NXu, &e cf5jFy 受激发射损耗效应 %do|>7MO@ Fe"0Hp+ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 :bLGDEC h,TDNR<1L
cM C1|3 OWtN=Gk VirtualLab Fusion 技术 ~qFi0<-M gAv?\9=a)W
&|/C*2A H# 2'\0u 文件信息 9
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nzhQ\'TC 4&$hBn=! 进一步阅读 _Xsn1 • Simulation of Multiple Light Source in VLF sAnStS=> • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy 4)v\Dc/9i ?|N:[. 市场图片 $sGX%u Z~T- *1V
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