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摘要 ^!d3=}:0 !g[Zfo2r"
d=(mw_-? c)J%`i$ 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 K0~rN.C!0 j%kncGS 任务说明 dN q$} &
21%zPm
LV Ge]lD 2G7Wi!J 多重光源 aN?zmkPpov [JiH\+XLPs )`:UP~)H ?9/G[[( 螺旋相位板 4x34u}l 4s-!7
9{l}bu/u G{}VPcrbC 探测器插件 CJY$G}rk $4LzcwG
tmq OJ /m1\ iM\ 参数运行 #mdc [. /v{I
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r2g)3 J1k>07}| 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: ZK,G v B#A6v0Ta Usage of the Parameter Run Document Z.,MVcd .v
K-LHs 非时序建模 I7onX,U+ <'u'#E@"sl
d]9z@Pd Dt@SqX:~Ee 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 IGl9g_18 KlEpzJ98 Channel Setting for Non-Sequential Tracing :#Wd~~d O.? JmE 总结 – 组件… >4TO=i itz,mrP
MgZ/(X E 1MFbQs^
wwqEl( &>O+}>lr9 系统观感 I9^x,F"E] e\rp)[>'
\z$= K wYea\^co 0GwR~Z}Z 发射&损耗激光 8*X4\3:*N KI.unP%
0GL M(JmK + {]j]OP 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 ^iA9%zp }>\C{ClI [),ige 3D STED 轮廓 h[ ZN+M &{:-]g\
gGYKEq{j( JF]JOI6.e 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 *CMx- _ kZ~~/?B 受激发射损耗效应 ib m4fa rv;3~'V 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 S:}7q2: 4H/OBR
_1^'(5f$ ~DWl s. VirtualLab Fusion 技术 *8q.YuZ )7@0[>
"@kaHIf[ KvSG; 文件信息 gw(z1L5
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x-c"%Z| M|-)GvR$J 进一步阅读 ,4rPg]r@ • Simulation of Multiple Light Source in VLF -Za/p@gM • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy pAEx#ck ?2a $*( 市场图片 V&i;\ 9 GbyJ:
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