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摘要 a5a1'IVq Ox^:)ii
`m%:rE, RX'-99M 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 lV\lj@ 3[r";Wt# 任务说明 [Eu]; ~Q?!W0ZBE
'<7S^^ax EWA;L?g|A 多重光源 Ea4_Qmn K#!X><B' 7S<UFj 1* ^'\W. 螺旋相位板 L]I3P|y_ o-z &7@3Hu
n_P3\Y| (bv,02 探测器插件 A " S/^< tiYOMA
.%'Z~|K4 "~/9F 参数运行 j)Y[4 ^k^ +{$QAjW(/
e3v5,. 8gC)5Y 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: PK4`5uT GX?*1 Usage of the Parameter Run Document G 4qy*. wAFW*rO5o 非时序建模 FRZs[\I|iT u[")*\CP
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xH9_ nNaXp*J 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 7?nJ4x1 U>P|X=) Channel Setting for Non-Sequential Tracing Bu3T/m ;:mu} 总结 – 组件… =P`~t<ajB 8;8c"'Mn
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" xR[mJ@U ;AIc?Cg 系统观感 {2
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{G3i0r B= X,7 p $ouh 发射&损耗激光 ~@4'HMQ &|Np0R
6CCbBA DC Q^fZ/ 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 JObMZA$ o.7{O,v 7dOyxr"H- 3D STED 轮廓 L]d-33.c!H "D][e'
R Oc`BH= ZA(T
注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 ? _g1*@pA T
vtm`Yk\ 受激发射损耗效应 ycAKK?O* 6l\FIah@ 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 )]43R EU-]sTJLF
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qZxm! $`VFdAe VirtualLab Fusion 技术 D@oCP =m< IMGP'g
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文件信息 !CUoHTmB 9`Q<Yy"du
c#/H:?q?a X"aEJ|y 进一步阅读 q,>?QBct* • Simulation of Multiple Light Source in VLF GV.A+u • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy H%F>@(U #z'uRHx%=0 市场图片 wzCUZ1N9q Tr&M~Lgb)
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