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摘要 F&*M$@u5 X4$e2f
1955(:I x3s^u~C)(w 受激发射损耗(STED)显微镜描述了一种常用的技术,以实现在生物应用的超分辨率。在这种方法中,两束激光—一束正常,一束转变成甜甜圈模式—被叠加到荧光样品上。通过使用荧光过程的发射和损耗以及利用由此产生的饱和效应,与通常的显微镜技术(例如,宽视场显微镜)相比,后反射光显示出更高的分辨率。在本文档中,介绍了这种设备的基本设置。为了模拟饱和效应,在焦点区域采用等效孔径。 !T*B{+| ]CZLaID~
任务说明 W\,lII0 BB.TrQM.#
.NT&>X~.V %d0S-. 多重光源 TyWy5J<
:+ \vsrBM X^Y9T`mQ} hzLGmWN2j8 螺旋相位板 $Jm2,Yv g8+,wSE
pU ]{Z( @'*#]YU8 探测器插件 <S$21NtM87 winJ@IY W
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n ;5?^Un% 参数运行 DH9?2)aR ! |h2&tH
l :Nxl :WIf$P?X 为了实现焦点区域的z-扫描,可以执行参数运行。使用此工具,用户可以轻松改变整个光学系统的单个参数或一组参数。有关详细信息,请参阅: f*vk1dS:*3 G=cH61 Usage of the Parameter Run Document %GbPrlu )[sO5X7'^ 非时序建模 +)JqEwCrq "IG$VjgcB
+~Lzsh" `_U0>Bfg; 将通道配置模式切换设置为Manual Configuration后,用户可以为系统中的每个表面指定为模拟打开哪些通道。运行模拟时,将对活动光路进行初步分析(通过所谓的Light Path Finder)。然后引擎将沿着这些光路将场追踪到系统中存在的探测器。 H}V*<mgw %`T5a< Channel Setting for Non-Sequential Tracing XOg(k(&T ~cBc&u:" 总结 – 组件… m=\eL~h 0t/y~TrBY
hav?mnVJ +Z&&H'xD
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` 系统观感 oHXW])[ xO<-<sRA
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YP 0aTbzOn& +wW 发射&损耗激光 DgT.Lku? $v<hW
A]>
&9dr+o-(~ csX*XiDWm 光在焦点区域中的传播表明,来自损耗激光的光会产生环形光斑,其中中心孔径小于发射激光的焦斑。由于两个光束在目标上的荧光过程中竞争,这导致信号激光的有效光束尺寸更小。 y?z _^ppj `V):V4!j), hf^`at 3D STED 轮廓 ENXW#{N.v y8*@dRrq
0S:!Gv+ mz$Wo *FB 注意:由于这个简化的例子不包括实际的荧光效应,我们为了可视化目的对两个激光束进行了归一化。 # 1dTM- %r 受激发射损耗效应 4a.e
,gitf wJos'aTmE 为了近似饱和损耗的影响,我们在焦点位置对发射激光的结果应用了孔径效应。孔径的参数大致基于损耗激光的焦点轮廓(600nm 直径,25% 边缘)。通过系统传播回探测器平面表明,由于这个过程,光斑变得非常小。 aQ&8fteFR o*wC{VP_
ooU Sb 2}`V c{\ VirtualLab Fusion 技术 b|ksMB>) oj(A`[
fFZ`rPb @)Hbgkdi 文件信息 lmtQr5U oF b mz*
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i 进一步阅读 18p3 • Simulation of Multiple Light Source in VLF O{ %A&Ui • Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy F{*9[jY 9HNh*Gc= 市场图片 :^-HVT)qF t`8e#n 9
Ro'4/{}+
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