切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1005阅读
    • 0回复

    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    7305
    光币
    30666
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 +h9`I/R  
    /]P%b K6B  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 UX03"gX  
    *'s&/vEy  
    ]rKH|i  
    65 NWX8f}  
    1. 案例 dV'6m@C  
    >I{4  
    HdDo&#  
      G;87in ,}  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 %9fa98>  
    Ey 0>L  
    1. 系统构建模块 <#:Ebofsn  
    'cWlY3%t  
    "87O4 #$  
    9N`+ O  
    2. 组件连接器 zS#f%{   
    *)2x&~T*|  
    u66TrYStG  
     
    `<. 7?  
    几何光学仿真 7/$nA<qM  
    N4[ B:n  
    以光线追迹 9J't[( u|u  
    \3J+OY  
    1. 结果:光线追迹 vY8WqG]  
    5M/%%Ox  
    qJe&jLZa  
     
    ZdJVs/33Vn  
    快速物理光学仿真 v]UU&Jq8U  
    eP-R""uPw  
    以场追迹 <ls i.x\y<  
    d|D'&&&c  
    1. NA=1.4时的光栅成像 oRtY?6^$  
    f z/?=  
    ,4h! "c  
    ?(|TP^  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 }kgjLaQ^N  
       `"^@[1  
    0e7O#-  
    *IjdN,wox  
    3. NA=0.5时的光栅成像 Q}k_#w  
       jSOa   
    MfZ}xu  
     
    分享到