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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 t\Pn67t  
     exT O#*o  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 G347&F)  
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    1. 案例  O_^O1  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 AT Dm$ *  
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    1. 系统构建模块 m}/LMY  
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    2. 组件连接器 ?|!167/O  
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    几何光学仿真 =Lx*TbsFYt  
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    以光线追迹 Pl^-]~  
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    1. 结果：光线追迹 N5 ITb0Tv  
    bL*;6TzRK  
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          6&V4W"k  
    快速物理光学仿真 {.F``2  
     CY2DxP%  
    以场追迹 f5D.wSY  
     Bfhw0v]Z  
    1. NA=1.4时的光栅成像 jCdKau&9  
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     ^,S\-Uy9  
    4 4%jz-m  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 K8E:8`_cx  
       +LddW0h+=8  
    V# Mw  
    VesW7m*z  
    3. NA=0.5时的光栅成像 hCRW0 I  
       :()(P9?  
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