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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 C,r`I/;  
     NGD*ce"w  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ( f,J_  
    7B(bH8  
    i7nL_N  
     VI24+h'J  
    1. 案例 ESMG<vW&f  
    ^IGyuj0]jG  
     BMNr<P2li  
      [8@kxCq  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 +~d1 ;0l|  
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    1. 系统构建模块 MCeu0e^)  
    6<Z*Tvk{C  
     YZGS-+  
    's[BK/  
    2. 组件连接器 sS2_-X[_  
    {y-2  
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          3Q"F(uE v^  
    几何光学仿真 4;C*Fa  
     {pDTy7!Hs  
    以光线追迹 b,sGq  
     'j,oIqx  
    1. 结果：光线追迹 kG1;]1tT#  
    qO-C%p [5  
    a@#Q:O)4  
          s>|Z7[*  
    快速物理光学仿真 dL_QX,X-]  
     Wp5]Uk  
    以场追迹 \+k, :8s/  
     EZ"bW  
    1. NA=1.4时的光栅成像 tAqA^f*{  
    #JA}LA"l  
     zF5q=9 4$  
    ja[OcR-tX  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 1")FWN_K/T  
       QjA&IZEC  
    ,+tPRkwA^  
    bD35JG^&i  
    3. NA=0.5时的光栅成像 XFW5AP  
       6&89~W{  
    '>3`rsu  
     
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