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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 /M 0 p_4  
     ab{;Z 5O  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 @|^jq  
    YjFWC!Qj$  
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    1. 案例 V{KjRSVf=  
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     2.]~*7   
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 m+H%g"Zj  
     zgK;4 22$m  
    1. 系统构建模块 -=}b;Kf -  
    1c'79YU  
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    ~+<<bzY  
    2. 组件连接器 THJ 3-Ug  
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          @2u#93Y  
    几何光学仿真 ?C}sR:K/  
     +B#qu/By  
    以光线追迹 RXM}hqeG  
     MZ)T0|S_  
    1. 结果：光线追迹 bCzdszvg3  
    ]s _@n!  
    goB;EWz  
          +Jdm #n?_  
    快速物理光学仿真 .W$ sxVXB  
     )'`CC>Q  
    以场追迹 oQ{cSThj  
     !\ZcOk2  
    1. NA=1.4时的光栅成像 uNy!< u  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 >zFD $  
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    Y_+ SA|s  
    4Ppop  
    3. NA=0.5时的光栅成像 W=3? x  
       } #qQ2NCH  
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