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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 sk~rjH]-g$  
     w:Fi 2aJ  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 %}cGAHV  
    @v9 PI/c  
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    1. 案例 h0NM5   
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      B^Q\l!r  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 2Z6#3~  
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    1. 系统构建模块 QBa1c-Y  
    ~=HN30  
     s+>""yi  
    ]#N2:ych  
    2. 组件连接器 ^_JD 7-g  
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    M#on-[  
          i8I%}8  
    几何光学仿真 ^~0Mw;n&  
     4EzmH)4G  
    以光线追迹 rX6"w31  
     s;q]:+#7g  
    1. 结果：光线追迹 ilQ R@yp*  
    /hf}f=7kH  
    L,.Ae i9  
          7]Y Le+Ds  
    快速物理光学仿真 $b\`N2J-_  
     Ev IL[\Dy  
    以场追迹 [AQ6ads)  
     l2>G +t(,  
    1. NA=1.4时的光栅成像 e0"R7a  
    VO>A+vx3M  
     >e*m8gm#  
    &TE=$a:d&  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 aT[Z#Zd, N  
       +T=Z!2L  
    zcD&xoL\H  
    +vaz gO<u  
    3. NA=0.5时的光栅成像 4H8vB^  
       dlN(_6>b  
    Dna0M0   
     
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