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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 Oz-;2   
     GA+#'R  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 'S#D+oF(1~  
    s9F{UN3  
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     $;VY`n  
    1. 案例 .hVB)@/  
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      ,LftQ1*;  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 6O\a\z  
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    1. 系统构建模块 (t_%8Eu  
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     Q.i_?a  
    q)Qg'l^f  
    2. 组件连接器 Gk-49|qIV  
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          .{,fb  
    几何光学仿真 ZWXA%u7V  
     |!hN!j*)  
    以光线追迹 /ht-]Js$G  
     '1vm]+oM  
    1. 结果：光线追迹 N.F //n  
     4"~F  
    Gc*p%2c  
          Wi<g  
    快速物理光学仿真 %@'[g]h k  
     BRTCo,i  
    以场追迹 ul^VGW>i  
     Vqp 3'=No  
    1. NA=1.4时的光栅成像 S pIdw0  
    hF`Qs  
     w{89@ XRC  
    kO/]mNLG  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 hp3 <HUU  
       wn/Y 5   
    ;Q\MH t*  
    V)jF]u~g  
    3. NA=0.5时的光栅成像 :R1F\FT*  
       [ ~:wS@%  
    ,~*pPhQ8m  
     
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