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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 lf>d{zd5  
     e:nByzdH0[  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 \O"H#gt  
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     H!]&"V77  
    1. 案例 -d'F KOD  
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      ]vz6DJs  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 JseKqJ?g  
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    1. 系统构建模块 c=\_[G(  
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     onSt%5{P%X  
    e8> X5  
    2. 组件连接器 KJoa^e;~  
    `)y ;7%-  
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          W`9{RZ'  
    几何光学仿真 "rLm)$I  
     }EwE#sZ#  
    以光线追迹 1q!k#Cliu  
     * cW%Q@lit  
    1. 结果：光线追迹 '+/mt_re=  
    eK1l~W%  
    O713'i  
          A4@z+ebb l  
    快速物理光学仿真 k8}fKVU;  
     ];Noe9o  
    以场追迹 =<HekiYM  
     j:1N&7<FU  
    1. NA=1.4时的光栅成像 jc_k\  
    J[?oV;O  
     VdM Ksx`r  
    P?>:YY53  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 0qFO+nC  
       liPrxuP`  
    ? 3fnt"  
    ;} Lf  
    3. NA=0.5时的光栅成像 [C4{C4TX  
       <Nrtkf4-O  
    paV1o>_Rd  
     
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