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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 x1</%y5ev  
     [74HUw>  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 >=BH$4Ce  
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    1. 案例 B/.+&AJw  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 ;[TC`DuNj0  
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    1. 系统构建模块 yH5^EY7rQ  
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    2. 组件连接器 vaN}M)W/  
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    几何光学仿真 7Mq4$|qhD  
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    以光线追迹 IlQNo 1  
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    1. 结果：光线追迹 ^'>kZ^w0  
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    l3kYfq{";"  
          eD5:0;X2  
    快速物理光学仿真 -5;Kyio  
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    以场追迹 )c|S)iJ7=z  
     -(*<2Hy4  
    1. NA=1.4时的光栅成像 ${I$@qq83  
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     CR8a)X4j#  
    XRoMD6qf;  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 vC$Q4>m  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 Z{-x}${  
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