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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 ny l[d|pVa  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 i:/Ws1=q  
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    1. 案例 Od]B;&F  
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      4Pv Pp{Y  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 d_] sV4[  
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    1. 系统构建模块 KAI/*G\z  
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    2. 组件连接器 9er0Ww.d  
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    几何光学仿真 ZNUSHxA  
     /w/um>>K.  
    以光线追迹 #+ai G52+  
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    1. 结果：光线追迹 Cj5=UUnO  
    GOU>j "5}2  
    Lk`,mjhk  
          \Y$@$)   
    快速物理光学仿真 i5; _  
     CFW#+U#U  
    以场追迹 g;-6Hg'  
     qA>C<NL  
    1. NA=1.4时的光栅成像 @.8FVF  
    c[zGWF#1>  
     I7]qTS[vg  
    2]'cj  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 =u<jxV9  
       L)QAI5o:3  
    f7v|N)  
    %pUA$oUt  
    3. NA=0.5时的光栅成像 UZ-[vD1n  
       ;y]BXW&l&  
    S]g`Ds<  
     
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