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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 'I)E.DoF  
     {\-IAuM  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 C)Hb=  
    tPho4,x$  
    E+E.z?>S  
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    1. 案例 }^B=f_Ag  
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     9#niMv9  
      <lVW; l7  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 w.H\j9E l  
     K)t+lJ  
    1. 系统构建模块 B1a&'WX?  
    HzF]hm,  
     }c*6|B@f  
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    2. 组件连接器 KcX] g*wy  
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          W%RjjL J@  
    几何光学仿真 `;!v<@:i2  
     %8yX6`lH  
    以光线追迹 Y: XxTa*  
     NEh5    
    1. 结果：光线追迹 gb_k^wg~1'  
    N!F ;!  
    X+T +y>e a  
          3EKqXXzOB  
    快速物理光学仿真 G>0S( M)  
     n/5)}( }K  
    以场追迹 B? r[|  
     9 &~Rj 9  
    1. NA=1.4时的光栅成像 ef=LPCi?  
    P:y M j&)  
     3M{/9rR[  
    Yxt`Uvc(^h  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 +9mnxU>  
       /a$RJ6t&3  
    )0JXUC e  
    'WG%O7s.  
    3. NA=0.5时的光栅成像 :jq   
       9RoN,e8!  
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