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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-08-24
    摘要 Wg%]  
     z>+CMH5L)  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 !QdX+y<re  
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    1. 案例 @B0fRG y  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 u L v  
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    1. 系统构建模块 W/RB|TMT  
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    2. 组件连接器 @RB^m(> 5  
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          6GAEQ]  
    几何光学仿真 }`Wo(E}O  
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    以光线追迹 YO.ddy*59  
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    1. 结果：光线追迹 pbh>RS=ri  
    kb$Yc)+R4  
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          @}^VA9ULK  
    快速物理光学仿真 w[vccARQ  
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    以场追迹 0f_`;{  
     EFU)0IAL[  
    1. NA=1.4时的光栅成像 @@3 NSKA  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 |pknaz  
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    eF0FQlMe[  
    3. NA=0.5时的光栅成像 z2R?GQ5 A  
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