价格:4500,VIP:4410 SVIP:4275 55,-1tWs
课程共三十节 {>Px.%[<
课程简介:
cF2/}m] 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直到合格为止。
`9-Zg??8r 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例,演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时,并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
*C BCQp[$ 课程大纲:
+[ zo2lBx 1. 软件基础入门
=m:W 软件简介
YO,ldsSz|r 软件计算方法简介
Oq5k4 程序基本框架和全局
参数设置
U ~m.I 程序中使用的各种术语的定义
(R-Q9F+;
=Ug_1w 2. 图表
E` |qFG< 绘图和制表来表示性能
l&B'.6XKs 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
i'<1xd(` 交互式绘图的使用
qZh~Ay6I 3. 材料管理
KfNXX>' 材料的获取
]@YQi<d2^ 材料的导入与导出
gL`SZr9 材料数据平滑与插值
;"Y6&YP< 用包络法推导介质膜的光学常数
,)1e+EnV& 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
7%"7Rb^@ 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
BP$#a
# 4. 薄膜设计与优化简介
R{_IrYk 优化与合成功能说明
K}BX6dA 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
R
28* 膜层锁定和链接
}^7V^W 减反膜优化
SO/]d70HG 高反膜优化
$ *A3p 滤光片优化
G.8b\E~ 斜入射光学薄膜
(rn x56I$ 5. 反演工程
4)I#[&f 镀膜过程中两种主要的误差(
系统误差和随机误差)
Z"Oa5V6[A 使用反演工程来控制对设计的搜索,该设计代表实际生产的产品
'9@R=#nd 6. 分析工具
?C35 颜色模型和分析工具
`'WLGQG 公差工具和良品率预估
5g5NTm`=< 灵敏度分析
!$Z"\v'b 7. 附加模块-Vstack
9DX3]Z\7X 非平行平面镀膜
n bk(FD6 棱镜镀膜透反吞吐量评估
CN(4;-so) 8. 附加模块-DWDM
B:cOcd?p 光通信用窄带滤光片
模拟 1#"Q' ,7 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
~py0Vx,F 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
%<yM=1~> 镀膜沉积过程噪声信号模拟
G`"Cqs< 10. 附加模块-Function
0h4}RmS 如何在Function中编写脚本
+;;%Atgn 案例:自定义画图
~b0qrjF;O 案例:
太阳能抗反射薄膜分析
oE1]vX 案例:膜厚变化颜色变化