价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 4<5*HpW
课程共三十节 *TCV}=V G
课程简介：
e ^`La*n 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
uaCI2I 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
@ Yo*h"s 课程大纲：
f'qM?GlET 1. 软件基础入门
qNMYZ0, 软件简介
O@:R\MwFOZ 软件计算方法简介
~*~aFf5 程序基本框架和全局
参数设置
kK0zb{ 程序中使用的各种术语的定义
,ZO?D|M1 
hQ v I} 2. 图表
1,we: rwX 绘图和制表来表示性能
fl4'dv 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
e<~bD F H 交互式绘图的使用
1:u~T@;" ` 3. 材料管理
gh `_{l
材料的获取
,Hp7`I>/ 材料的导入与导出
hVJ}EF 0 材料数据平滑与插值
^(BE_<~ 用包络法推导介质膜的光学常数
#&z'?x^a 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
?f!&M 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
>{Xyl): 4. 薄膜设计与优化简介
, 0?_?
GO 优化与合成功能说明
5B3sRF} 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
&k` lb kq 膜层锁定和链接
bZj5qjl`x 减反膜优化
+]~}kvk: 高反膜优化
z$(`{
o%a 滤光片优化
*w6F0>u 斜入射光学薄膜
wX!0KxR/Z 5. 反演工程
e{ ^l D.E 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
6!=q+sw/X 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
azRp4~2? 6. 分析工具
{Wr5F9q 颜色模型和分析工具
9w1`_r[J 公差工具和良品率预估
p>+Q6o9O 灵敏度分析
qmNG|U& 7. 附加模块-Vstack
R#rfnP >
非平行平面镀膜
=t|,6Vp 棱镜镀膜透反吞吐量评估
P#rS.CIh 8. 附加模块-DWDM
vJX0c\e 光通信用窄带滤光片
模拟 u Oh 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
o,$K=#Iv 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
YjPj#57+ 镀膜沉积过程噪声信号模拟
$j4/ohwTDY 10. 附加模块-Function
~Ds3 -#mMy 如何在Function中编写脚本
}1.'2. <Y 案例：自定义画图
3]7j, 1^ 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
@jZ1WHS_a 案例：膜厚变化颜色变化
