价格:4500,VIP:4410 SVIP:4275 ME$J42
课程共三十节 ?=ffv]v|
课程简介:
X Z . T%g 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直到合格为止。
*E*oWb]H 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例,演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时,并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
1~'jC8&J 课程大纲:
AN:yL
a! 1. 软件基础入门
@ 5^nrB 软件简介
!b"?l"C+u 软件计算方法简介
qVKd c*R- 程序基本框架和全局
参数设置
%@Z;;5 L 程序中使用的各种术语的定义
1X[^^p~^
,sIC=V + 2. 图表
<sw@P":F 绘图和制表来表示性能
~ ;LzTL 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
\"1>NJn&k) 交互式绘图的使用
<^\rv42'(2 3. 材料管理
m`9nDiV 材料的获取
<)p.GAZ 材料的导入与导出
D8<C7 材料数据平滑与插值
SIV !8mz 用包络法推导介质膜的光学常数
s(nT7x+W 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
>v %js!`f 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
*X(:vET 4. 薄膜设计与优化简介
D3yTN" 优化与合成功能说明
J Cq>;br. 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
.G8>UXX 膜层锁定和链接
$'%GB $. 减反膜优化
&s='$a;4 高反膜优化
T#H^
}` 滤光片优化
^3TNj
斜入射光学薄膜
(Kwqa"Hk4{ 5. 反演工程
U
fyhd 镀膜过程中两种主要的误差(
系统误差和随机误差)
1!KROes4 使用反演工程来控制对设计的搜索,该设计代表实际生产的产品
F)(^c 6. 分析工具
X>Vc4n<} 颜色模型和分析工具
X58U>4a 公差工具和良品率预估
? Bpnnwx 灵敏度分析
Vw1>d+<~-) 7. 附加模块-Vstack
%(1OjfZc 非平行平面镀膜
4kjfYf@A 棱镜镀膜透反吞吐量评估
O|V0WiY< 8. 附加模块-DWDM
uhh7Ft#H 光通信用窄带滤光片
模拟 )A$"COM4 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
mUa#sTm 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
9F>`M 镀膜沉积过程噪声信号模拟
T@tsM|pI 10. 附加模块-Function
4AS%^&ah 如何在Function中编写脚本
l!f_ +lv 案例:自定义画图
+Yc^w5 !( 案例:
太阳能抗反射薄膜分析
/[<F
f 案例:膜厚变化颜色变化