价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 TS~>9h\;
课程共三十节 (8$; 4 q[!
课程简介：
(C=.&',P 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
GIyb0XjTw 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
T/b%,!N) 课程大纲：
i- v PJg1 1. 软件基础入门
Km=dI d7] 软件简介
?f{--|V 软件计算方法简介
DviR D[+q" 程序基本框架和全局
参数设置
d8o<Q 9 程序中使用的各种术语的定义
2y t)"DnFk 
8 pEiU/V 2. 图表
P m
Zb!| 绘图和制表来表示性能
X5V8w4NN 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
O8 \dMb
交互式绘图的使用
2A5R3x= \ 3. 材料管理
,
Ac
gsC 材料的获取
I1 Jo 8s 材料的导入与导出
ROv(O;.Ty 材料数据平滑与插值
.*3.47O 用包络法推导介质膜的光学常数
3b#eB 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
-F+
)N$CW 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
.w .`1
g 4. 薄膜设计与优化简介
L T.u<ThR} 优化与合成功能说明
KO ~_ 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
4=T.rVS[ 膜层锁定和链接
iFypKpHg~ 减反膜优化
3 kc.U 高反膜优化
@`,~d{ziF 滤光片优化
3/j^Ao\fw 斜入射光学薄膜
qVvQ9 ? 5. 反演工程
V ^ 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
G(n
e8L8 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
AxsTB9/ 6. 分析工具
Hw(_l,Xf 颜色模型和分析工具
8~~*/oCoJt 公差工具和良品率预估
pr;z>|FgA> 灵敏度分析
T=NF5kj-= 7. 附加模块-Vstack
`~0^fSww 非平行平面镀膜
h}T+M BA% 棱镜镀膜透反吞吐量评估
a
(mgz&* 8. 附加模块-DWDM
Q"@x,8xW 光通信用窄带滤光片
模拟 {`Jr$*; 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
yqY nd<K4 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
C'_^D Pzj 镀膜沉积过程噪声信号模拟
"$lE~d"> 10. 附加模块-Function
5f ` a7R 如何在Function中编写脚本
n.323tNY 案例：自定义画图
!ULU#2'1 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
h^)R}jy+f 案例：膜厚变化颜色变化
